[发明专利]机载杂质检测

权利要求书

1.一种用于检测密闭室内杂质的系统（100），其包括：

发射器（110），其用于发射辐射；

至少一个通道（120），其紧邻所述发射器放置，从而在所述通道（120）的第一末端（122）接收来自所述发射器的辐射；以及

接收器（130），其紧邻所述通道的第二末端（124）放置，从而：

接收来自所述发射器的辐射；以及

产生第一信号，以响应从所述发射器（110）接收的辐射。

2.根据权利要求1所述的系统，还包括控制模块（140），所述控制模块（140）包括耦合至所述接收器（130）的逻辑，从而：

接收来自所述接收器（130）的所述第一信号；以及

当所述第一信号指示所述密闭室（115）内的杂质超过阈值时，产生警告。

3.根据权利要求1所述的系统，其中：

所述密闭室包括在交通工具内定义的分隔间；以及

所述至少一个通道沿着所述分隔间的表面延伸。

4.根据权利要求3所述的系统，还包括：

多个通道，其沿着所述分隔间（115）的表面（150）延伸；

多个射束分离器，其将来自所述发射器的辐射导入所述多个通道；以及

多个接收器，其：

接收来自所述发射器的辐射；以及

产生第一多个信号，以响应从所述发射器接收的所述辐射。

5.根据权利要求3所述的系统，还包括：

多个通道（120），其沿着所述分隔间（150）的表面延伸；

多个发射器，其将辐射发射至所述多个通道中；以及

多个接收器，其：

接收来自所述发射器（119）的辐射；以及

产生第一多个信号，以响应从所述发射器接收的所述辐射。

6.根据权利要求3所述的系统，其中所述至少一个通道被并入所述分隔间的表面。

7.根据权利要求3所述的系统，其中所述至少一个通道被安装至所述分隔间的表面。

8.一种用于检测密闭室（115）内杂质的方法，包括：

将来自发射器（110）的辐射发射至至少一个通道的第一末端；以及

在所述至少一个通道的第二末端，在接收机（130）中接收来自所述发射器的辐射；以及

产生第一信号，以响应从所述发射器中接收的所述辐射。

9.根据权利要求8所述方法，还包括：

在耦合至所述接收器的控制模块内，接收来自所述接收器的所述第一信号；以及

当所述第一信号指示所述密闭室内的杂质超过阈值时，产生警告。

10.根据权利要求8所述方法，其中：

所述密闭室包括在交通工具内定义的分隔间；以及

所述至少一个通道沿着所述分隔间的表面延伸。

11.根据权利要求10所述方法，还包括：

多个通道（120），其沿着所述分隔间的表面延伸；

多个射束分离器（160），其将来自所述发射器的辐射导入所述多个通道；以及

多个接收器（130），其：

接收来自所述发射器的辐射；以及

产生第一多个信号，以响应从所述发射器接收的所述辐射。

12.根据权利要求10所述方法，还包括：

多个通道，其沿着所述分隔间的表面延伸；

多个发射器，其将辐射发射至所述多个通道；以及

多个接收器，其：

接收来自所述发射器的辐射；以及

产生第一多个信号，以响应从所述发射器接收的所述辐射。