[发明专利]一种用于测量光学双折射媒介中偏振串扰的方法及其设备

权利要求书

1.一种用于测量光学双折射媒介中偏振串扰的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

1）将宽带光源输出的线性偏振光耦合入一具有保持传输光两正交偏振模的功能的光学双折射媒介中，并在该光学双折射媒介中产生一光信号；

2）将该光信号接入一干涉仪，获取两正交偏振模间光干涉信号；

3）对所获取的光干涉信号进行处理，获得光学双折射媒介中含有双折射色散影响的两正交偏振模间偏振串扰点的包络谱函数；

4）基于对步骤3）获得的含有双折射色散影响的包络谱函数测量，得出光学媒介中的双折射色散参数，基于该双折射色散参数求得包络宽度展宽补偿函数，利用该包络宽度展宽补偿函数对该含有双折射色散影响的包络谱函数的展宽进行修正，得到消除了双折射色散影响的包络谱函数，通过该修正后的包络谱函数获得光学双折射媒介中偏振串扰。

2.如权利要求1中所述的方法，其特征在于，所述步骤4）中所述基于双折射色散参数求得包络宽度展宽补偿函数具体包括：

对光学双折射媒介中沿光路上两个或多个不同位置处包络谱函数包络宽度进行测量，提取光学双折射媒介的双折射色散参数；并用所获取的双折射色散参数，生成包络宽度展宽补偿函数。

3.如权利要求2中所述的方法，其特征在于，所述步骤4）得到修正后的包络谱函数具体方法为：

通过将含有双折射色散影响的包络谱函数与包络宽度展宽补偿函数进行相乘得到修正后的包络谱函数。

4.如权利要求1中所述的方法，其特征在于，所述干涉仪是使用一基于光纤结构的干涉设备，或使用一全光纤结构的干涉仪。

5.如权利要求1中所述的方法，其特征在于，所述干涉仪为一迈克尔逊干涉仪。

6.如权利要求1中所述的方法，其特征在于，所述光双折射媒介为保偏光纤。

7.一种用于测量双折射光学媒介中偏振串扰的设备，其特征在于，该设备包括：

一个耦合装置，用于将宽带光源发射的线偏振光耦合到可保持两个正交偏振模的光学双折射媒介中，并从光学双折射媒介产生输出光信号；

一个光学干涉仪，用于接收由双折射媒介的输出光信号，并处理该信号获得双折射媒介中两正交偏振模的光干涉信号；

一个处理设备，用于对所获得的光干涉信号进行处理，获得光学双折射媒介中两正交偏振模之间偏振串扰点的包络谱函数，并基于对光学双折射包络谱的测量，获得光学双折射媒介中的双折射色散参数，利用求取的双折射色散参数得到包络宽度展宽补偿函数，应用包络宽度展宽补偿函数与包络谱函数进行相乘，减小光学双折射媒介中双折射色散导致的包络谱函数中包络展宽现象。

8.如权利要求7中所述的设备，其特征在于，进一步包括一数据处理模块，用于运算出光学双折射媒介中沿光路上两点或多点不同位置处包络谱函数的包络宽度，并根据包络谱函数的包络宽度获得光学双折射媒介中的双折射色散参数。

9.如权利要求8中所述的设备，其特征在于，所述数据处理模块还包括将包络谱函数与包络宽度展宽补偿函数相乘，产生一校正后的包络谱函数，该校正后的包络谱函数的谱宽消除了由双折射色散而导致的包络谱展宽现象。

10.如权利要求7中所述的设备，其特征在于，所述光学干涉仪为一全光纤结构的干涉仪。

11.如权利要求7中所述的设备，其特征在于，所述光学干涉仪为一迈克尔逊干涉仪。

12.如权利要求7中所述的设备，其特征在于，还包括：一个起偏器，置于光学干涉仪之前，用于对通过的光进行某一方向起偏，以保证由光学双折射媒介输出的光信号中两正交的偏振态产生混合，使得由起偏器输出的光信号直接入射至干涉仪中。