[发明专利]基于ZnO衬底的石墨烯CVD直接外延生长方法及制造的器件无效

专利信息
申请号: 201210408180.8 申请日: 2012-10-22
公开(公告)号: CN102903616A 公开(公告)日: 2013-01-30
发明(设计)人: 王东;宁静;韩砀;闫景东;柴正;张进成;郝跃 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: H01L21/205 分类号: H01L21/205;C30B25/18;C23C16/26
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 710065 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 基于 zno 衬底 石墨 cvd 直接 外延 生长 方法 制造 器件
【权利要求书】:

1.一种基于氧化锌衬底的石墨烯CVD直接外延方法,其特征在于,

采用II-VI族半导体氧化锌作为衬底的石墨烯CVD外延生长方法,通过对氧化锌衬底进行合理的预处理,调节生长压力,流量以及温度,在氧化锌上面直接生长石墨烯,无需金属作为催化剂,可用于无需转移的大面积石墨烯材料的生长制备,并为氧化锌-石墨烯光电、压电器件的制造提供材料。

2.如权利要求1所述的石墨烯CVD直接外延方法,其特征在于,

(1)将ZnO衬底先后放入丙酮,乙醇和去离子水中进行清洗,每次时间5~10min,从去离子水中取出衬底,用高纯氮气吹干;

(2)将ZnO衬底放入化学气相淀积CVD反应室中,抽取真空至10-5~10-6Torr,以去除反应室内的残留气体;

(3)向反应室内通入高纯Ar,排出衬底表面吸附气体;

(4)向反应室内通入H2进行衬底表面预处理;

(5)向反应室中通入H2和CH4

(6)自然降温,保持工序(5)中的H2和CH4流量不变,完成石墨烯的生长;

(7)温度降至100℃以下,关闭CH4、H2,通入Ar,打开反应室,取出样品。

2、如权利要求2所述的石墨烯CVD直接外延方法,其特征在于,向反应室内通入高纯Ar,排出衬底表面吸附气体时,温度150~250℃,保持10~30min,然后抽真空至10-5~10-6Torr。

3.如权利要求2所述的石墨烯CVD直接外延方法,其特征在于,向反应室内通入H2进行衬底表面预处理,气体流量1~20sccm,反应室真空度0.1~1Torr,衬底温度900~1000℃,处理时间1~10min。

4.如权利要求2所述的石墨烯CVD直接外延方法,其特征在于,向反应室中通入H2和CH4,保持H2和CH4的流量比为10∶1~2∶1,H2流量20~200sccm,CH4流量1~20sccm,气压维持在0.1~1atm,温度900~1100℃,升温时间20~60min,保持时间30~60min。

5.如权利要求2所述的石墨烯CVD直接外延方法,其特征在于,自然降温,保持工序(5)中的H2和CH4流量不变,气压0.1~1atm,完成石墨烯的生长。

6.一种利用权利要求1所述的基于ZnO衬底的石墨烯CVD直接外延生长方法制造的器件。

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