[发明专利]基于ZnO衬底的石墨烯CVD直接外延生长方法及制造的器件无效
申请号: | 201210408180.8 | 申请日: | 2012-10-22 |
公开(公告)号: | CN102903616A | 公开(公告)日: | 2013-01-30 |
发明(设计)人: | 王东;宁静;韩砀;闫景东;柴正;张进成;郝跃 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | H01L21/205 | 分类号: | H01L21/205;C30B25/18;C23C16/26 |
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地址: | 710065 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 zno 衬底 石墨 cvd 直接 外延 生长 方法 制造 器件 | ||
1.一种基于氧化锌衬底的石墨烯CVD直接外延方法,其特征在于,
采用II-VI族半导体氧化锌作为衬底的石墨烯CVD外延生长方法,通过对氧化锌衬底进行合理的预处理,调节生长压力,流量以及温度,在氧化锌上面直接生长石墨烯,无需金属作为催化剂,可用于无需转移的大面积石墨烯材料的生长制备,并为氧化锌-石墨烯光电、压电器件的制造提供材料。
2.如权利要求1所述的石墨烯CVD直接外延方法,其特征在于,
(1)将ZnO衬底先后放入丙酮,乙醇和去离子水中进行清洗,每次时间5~10min,从去离子水中取出衬底,用高纯氮气吹干;
(2)将ZnO衬底放入化学气相淀积CVD反应室中,抽取真空至10-5~10-6Torr,以去除反应室内的残留气体;
(3)向反应室内通入高纯Ar,排出衬底表面吸附气体;
(4)向反应室内通入H2进行衬底表面预处理;
(5)向反应室中通入H2和CH4;
(6)自然降温,保持工序(5)中的H2和CH4流量不变,完成石墨烯的生长;
(7)温度降至100℃以下,关闭CH4、H2,通入Ar,打开反应室,取出样品。
2、如权利要求2所述的石墨烯CVD直接外延方法,其特征在于,向反应室内通入高纯Ar,排出衬底表面吸附气体时,温度150~250℃,保持10~30min,然后抽真空至10-5~10-6Torr。
3.如权利要求2所述的石墨烯CVD直接外延方法,其特征在于,向反应室内通入H2进行衬底表面预处理,气体流量1~20sccm,反应室真空度0.1~1Torr,衬底温度900~1000℃,处理时间1~10min。
4.如权利要求2所述的石墨烯CVD直接外延方法,其特征在于,向反应室中通入H2和CH4,保持H2和CH4的流量比为10∶1~2∶1,H2流量20~200sccm,CH4流量1~20sccm,气压维持在0.1~1atm,温度900~1100℃,升温时间20~60min,保持时间30~60min。
5.如权利要求2所述的石墨烯CVD直接外延方法,其特征在于,自然降温,保持工序(5)中的H2和CH4流量不变,气压0.1~1atm,完成石墨烯的生长。
6.一种利用权利要求1所述的基于ZnO衬底的石墨烯CVD直接外延生长方法制造的器件。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造