[发明专利]基于GaN衬底的石墨烯CVD直接外延生长方法及制造的器件在审
申请号: | 201210408272.6 | 申请日: | 2012-10-22 |
公开(公告)号: | CN102903617A | 公开(公告)日: | 2013-01-30 |
发明(设计)人: | 宁静;王东;韩砀;闫景东;柴正;张进成;郝跃 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | H01L21/205 | 分类号: | H01L21/205;C30B25/02;C30B25/18;C30B29/02 |
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地址: | 710065 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 gan 衬底 石墨 cvd 直接 外延 生长 方法 制造 器件 | ||
技术领域
本发明属于半导体材料与器件制造技术领域,涉及半导体材料的生长方法,特别是一种基于III-V族半导体氮化镓衬底的石墨烯CVD外延生长方法,可用于无需转移的大面积石墨烯材料的生长制备,并为氮化镓-石墨烯器件的制造提供材料。
背景技术
石墨烯是一种由碳原子组成的二维晶体,是目前已知最轻最薄的材料,具有非常奇特的物理化学性质,具有突出的产业优势,有望替代Si成为下一代基础半导体材料的新材料。
过渡族金属催化化学气象沉积(CVD)外延是国际上广泛采用的大面积石墨烯制备的方法,它不受衬底尺寸的限制,设备简单,可以大批量生产。但是,CVD外延制备的原生石墨烯下方的金属衬底导电性使得其无法直接应用,必须依赖衬底转移技术,将金属衬底去除然后转移至合适的衬底上,而在转移过程中不可避免地会对石墨烯薄膜产生污染和损坏,影响石墨烯材料和器件的性能。
氮化镓(GaN)作为一种宽禁带材料,具有良好的多种性能,成为电子、光电研究领域的热门研究课题。可用于制备高电子迁移率晶体管、太阳能电池、紫外探测器、发光器件等。特别是石墨烯发现之后,作为六方纤锌矿晶体,氮化镓和石墨烯的结合能够有效减少晶格失配、提高石墨烯的质量和面积,具有独特的优势。氮化镓-石墨烯器件结构已经成为研究热点。因此,在氮化镓衬底上直接利用CVD方法外延生长石墨烯,能够减小晶格失配,避免转移过程中残胶引起的性能退化,提高石墨烯和氮化镓衬底接触质量,具有重要的意义。
发明内容
本发明的目的在于为了克服现有技术问题,提供一种基于氮化镓衬底的石墨烯气相化学沉积(CVD)方法,以在氮化镓衬底上直接生长石墨烯薄膜,为氮化镓-石墨烯结构器件提供材料。
实现本发明的技术关键是:采用III-V族化合物半导体GaN作为衬底,通过对GaN衬底进行合理的预处理,调节生长压力,流量以及温度,实现了石墨烯生长的最优化,在GaN上面直接生长石墨烯,无需金属作为催化剂,生长的石墨烯无需转移过程,便可以直接用于制造各种器件,为氮化镓-石墨烯结构器件提供了材料,提高了器件的电学特性,可靠性,降低了器件制造的复杂性。其生长步骤包括如下:
(1)将GaN衬底先后放入丙酮,乙醇和去离子水中进行清洗,每次时间5~10min,从去离子水中取出衬底,用高纯氮气(99.9999%)吹干。
(2)将GaN衬底放入化学气相淀积CVD反应室中,抽取真空至10-5~10-6Torr,以去除反应室内的残留气体;
(3)向反应室内通入高纯Ar,温度150~250℃,保持10~30min,然后抽真空至10-510-6Torr,排出衬底表面吸附气体。
(4)向反应室内通入H2进行衬底表面预处理,气体流量1~20sccm,反应室真空度0.1~1Torr,衬底温度900~1000℃,处理时间1~10min;
(5)向反应室中通入H2和CH4,保持H2和CH4的流量比为10∶1~2∶1,H2流量20~200sccm,CH4流量1~20sccm,气压维持在0.1~1atm,温度1000~1200℃,升温时间20~60min,保持时间20~60min;
(6)自然降温,保持工序(5)中的H2和CH4流量不变,气压0.1~1atm,完成石墨烯的生长。
(7)温度降至100℃以下,关闭CH4、H2,通入Ar,打开反应室,取出样品。
本发明具有如下优点:
1.由于采用基于氮化镓衬底的常压无催化金属的石墨烯CVD外延生长方法,无需在后续步骤中对石墨烯进行转移,避免了对石墨烯材料的破坏。
2.由于采用于氮化镓衬底的石墨烯CVD外延生长方法,可以直接在氮化镓衬底上制造石墨烯器件,为氮化镓-石墨烯器件提供材料基础。
附图说明
图1是本发明的氮化镓衬底上石墨烯薄膜化学气相沉积(CVD)生长流程图;
图2是本发明的氮化镓衬底上石墨烯薄膜化学气相沉积(CVD)生长结构示意图。
具体实施方式
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造