[发明专利]一种基于协同校验的分布式天线粗时间同步方法及系统

权利要求书

1.一种基于协同校验的分布式天线粗时间同步方法，其特征在于，所述方法包括：

获取分布式天线中每个采样点对应的粗时间同步检验量值；

依据所述采样点对应的粗时间同步检验量值得到协同天线集合以及所述协同天线集合中每个分布式天线的初步时间同步点；

取所述协同天线集合中的任意一个分布式天线为当前分布式天线，将当前分布式天线与所述协同天线集合中的其余天线配对，得到多组天线对；

判断所述多组天线对中是否存在异常分布式天线；

如果否，则得到标记成功的天线对，并且所述标记成功的天线对中的每个分布式天线的初步时间同步点为最终时间同步点；

如果是，则存在异常分布式天线，判断是否有与所述异常分布式天线配对的标记成功天线，如果有，将所述异常分布式天线依据所述标记成功的天线得到所述异常分布式天线的最终时间同步点，如果没有，所述异常分布式天线的初步时间同步点为最终时间同步点。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述判断与所述多组天线对中是否存在异常天线的过程包括：

将所述多组天线对逐组进行校验，若所述天线对全部没有校验成功，则所述当前分布式天线为异常天线；

取所述天线对中除异常天线外的第一分布式天线，将所述第一分布式天线与所述协同天线集合中的除异常天线外的天线进行配对，得到与所述第一分布式天线配对的天线对；

若所述与第一分布式天线配对的天线对全部校验成功，则得到标记成功的天线对，并且所述标记成功的天线对中的每个分布式天线的初步时间同步点为最终时间同步点；

若所述与所述第一分布式天线配对的天线对全部不没有校验成功，则所述第一分布式天线为异常分布式天线，依次循环，得到所述协同天线集合中的所有天线的校验状态，其中，所述校验状态为标记成功或异常。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：

若所述天线对中有部分天线对校验成功，则得到标记成功的天线对，并且所述标记成功的天线对中的每个分布式天线的初步时间同步点为最终时间同步点；

取所述天线对中除标记成功的天线外的第二分布式天线，将所述第二分布式天线进行配对，得到与所述第二分布式天线配对的天线对；

若所述与第二分布式天线配对的天线对全部校验成功，得到标记成功的天线对，并且所述标记成功的天线对中的每个分布式天线的初步时间同步点为最终时间同步点；

若所述与第二分布式天线配对的天线对全部没有校验成功，则所述第二分布式天线为异常分布式天线；

若所述与第二分布式天线配对的天线对中有部分天线对校验成功，得到标记成功的天线对，并且所述标记成功的天线对中的每个分布式天线的初步时间同步点为最终时间同步点，并返回执行取所述天线对中除标记成功的天线外的第二分布式天线，将所述第二分布式天线进行配对，得到与所述第二分布式天线配对的天线对，这一步骤，依次循环，得到所述天线对中的所有天线的校验状态，其中，所述校验状态为标记成功或异常。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取分布式天线中每个采样点对应的粗时间同步检验量值的过程包括：

将所述分布式天线接收的训练序列和预设的训练序列进行相关运算处理，得到与所述分布式天线对应的相关函数，并对所述相关函数取模方处理，得到所述每个采样点对应的粗时间同步检验量值。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述依据采样点对应的粗时间同步检验量值得到协同天线集合以及所述协同天线集合中每个分布式天线的初步时间同步点的过程包括：

当所述采样点中至少一个采样点对应的粗时间同步检验量值符合第一预设条件时，将所述粗时间同步检验量值对应的分布式天线加入协同天线集合，所述粗时间同步检验量值对应的分布式天线的采样点为所述分布式天线的初步时间同步点。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述采样点中任意一个采样点对应的粗时间同步检验量值符合第一预设条件的过程包括：

判断所述采样点中是否存在至少一个采样点，其对应的粗时间同步检验量值大于等于第一预设阈值，如果是，则符合第一预设条件，如果否，则不符合第一预设条件。