[发明专利]主动式矩阵有机发光二极管的像素驱动电路及其方法无效
申请号: | 201210411850.1 | 申请日: | 2012-10-25 |
公开(公告)号: | CN103778883A | 公开(公告)日: | 2014-05-07 |
发明(设计)人: | 郭鸿儒;曾名骏;曾卿杰 | 申请(专利权)人: | 群康科技(深圳)有限公司;奇美电子股份有限公司 |
主分类号: | G09G3/32 | 分类号: | G09G3/32 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 汤保平 |
地址: | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 主动 矩阵 有机 发光二极管 像素 驱动 电路 及其 方法 | ||
技术领域
本发明是关于一种像素驱动电路及其方法,尤指一种使用N型晶体管来驱动有机发光二极管的主动式矩阵有机发光二极管(AMOLED)的像素驱动电路及其方法。
背景技术
在众多种类的平面显示器中,有机发光二极管(Organic LightEmitting Diode,OLED)显示器技术为极具潜力的新兴平面显示技术。而OLED显示器依驱动方式又可分为被动式矩阵有机发光二极管(PassiveMatrix OLED,PMOLED)与主动式矩阵有机发光二极管(Active Matrix OLED,AMOLED)两种。由于AMOLED驱动电路的每一像素皆有一电容储存资料,让每一像素皆维持在发光狀态。因此,AMOLED耗电量明显小于PMOLED,加上其驱动方式适合发展大尺寸与高解析度的显示器,使得AMOLED成为未来发展的主要方向。
在AMOLED中,其所用的薄膜晶体管(Thin-film transistor,TFT)依背板工艺技术可区分为N型晶体管及P型晶体管二种驱动型式。请参考图1A及图1B,是分别为已知使用N型晶体管及P型晶体管驱动有机发光二极管的AMOLED像素驱动电路示意图。其中,图1A及图1B为一般传统的二薄膜晶体管结合一电容(2T1C)的AMOLED像素驱动电路。如图1A所示,当扫描线SCAN扫描到此像素驱动电路900A时,资料线DATA将输入对应的资料电压至薄膜晶体管940A的漏极(Drain)端,并传递至电容920A以维持住资料电压。此时的薄膜晶体管910A将进入饱和区,而使得流经有机发光二极管930A的电流IA维持在IA=K(VGS-VT)2,其中,K=1/2(μn*COX)(W/L),μn为电子漂移率(electron mobility),COX为氧化层电容(oxide capacitance),(W/L)为薄膜晶体管910A的栅极宽长比,VGS为薄膜晶体管910A的栅极端G及其源极端S之间的电压差,VT为薄膜晶体管910A的临界电压(threshold voltage),而该薄膜晶体管是会依该VGS电压是否大于该临界电压而判断是否为开启状态。并使得有机发光二极管930A依据资料电压而持续发光,直到下次扫描线SCAN再次扫描到此像素驱动电路900A。同样地,图1B所述的已知的像素驱动电路900B,亦将如同像素驱动电路900A的驱动方式而让有机发光二极管930B发光,故在此不做赘述。
由上述可知,有机发光二极管930A、930B所表现出的亮度是由各自流经有机发光二极管930A、930B的电流大小所决定。而对于使用N型晶体管驱动有机发光二极管的AMOLED像素驱动电路而言,目前仍有以下问题需要解决:
(1)N型晶体管的临界电压偏移问题:其是因为薄膜晶体管工艺上的差异或是长时间操作的后产生劣化(degradation)而造成临界电压的变异,使得AMOLED显示不均匀。
(2)电流电阻降(IR-drop)问题:图2是已知多个像素驱动电路组成的AMOLED显示器示意图。由图2可知,随着第一电压线950的拉长,第一电压线950上的内阻ΔR逐渐增加,而产生一个电压降(即驱动电流IIN×内阻ΔR),使得第一电压VIN为VIN-IIN×ΔR而逐渐衰减(即越远离第一电压线950则因内阻ΔR越大,而造成驱动电压VIN因为ΔR越大而逐渐变小),进而使得驱动有机发光二极管的N型晶体管所产生的电流值随着驱动电压线950的拉长而逐渐下降。又随着面板的尺寸越来越大,影响会越来越明显,最后产生面板亮度不均匀的情况,故考量到发展大尺寸面板时,IR-drop是不能忽略其严重性的问题。
(3)有机发光二极管(OLED)跨压用电压差上升问题:由于材料老化的现象,OLED处在长时间操作下,会发生跨压用电压差逐渐上升且发光效率下降的问题。而跨压用电压差的上升可能会影响到N型晶体管的操作,若OLED接在N型晶体管上,当OLED的跨压用电压差上升时将会直接影响到N型晶体管的栅极与源极的跨压用电压差,也就是直接影响到流经OLED的电流,而产生显示不良问题。
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