[发明专利]一种用于补偿晶振老化的方法无效

专利信息
申请号: 201210411978.8 申请日: 2012-10-25
公开(公告)号: CN102916654A 公开(公告)日: 2013-02-06
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 北京七芯中创科技有限公司
主分类号: H03B5/04 分类号: H03B5/04;G01R31/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100029 北京市朝*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 补偿 老化 方法
【权利要求书】:

1.一种用于补偿晶振老化的方法,其特征在于该方法是利用已知的晶振老化规律对晶振的老化进行补偿,典型结构由四部分组成计时装置、计算单元、存储单元和晶振四部分组成,计时装置记录时间信息并送入计算单元;计算单元根据晶振使用时间和存储单元值进行老化曲线拟合,生产补偿数据,送入被补偿件晶振,存储单元用于存储晶振的老化值,晶振为被补偿件,计算单元、计时装置、存储单元和晶振的相互连接,组成晶振老化补偿的功能电路。

2.根据权利1要求所述的一种用于补偿晶振老化的方法,其特点在于,计时装置主要功能是记录晶振的使用时间,该装置可以是实时时钟。

3.根据权利1要求所述的一种用于补偿晶振老化的方法,其特点在于,计算单元主要功能是根据晶振使用时间和存储单元的老化值,拟合和预测出补偿值,该单元可以是MCU。

4.根据权利1要求所述的一种用于补偿晶振老化的方法,其特点在于,存储单元主要功能是存储晶振老化值,该单元可以是EEPROM。

5.根据权利1要求所述的一种用于补偿晶振老化的方法,其特点在于,晶振可以是压控晶振、温补晶振、恒温晶振,也可以使普通的石英晶振。

6.根据权利1要求所述的一种用于补偿晶振老化的方法,其特点在于,计算单元输出的补偿值可以是数字量也可以是模拟量。

7.根据权利1要求所述的一种用于补偿晶振老化的方法,其特点在于,该方法是对晶振的负载电容进行补偿,以使晶振达到较准确的频率输出。

8.根据权利1要求所述的一种用于补偿晶振老化的方法,其特点在于,存储单元存储的是离散的老化值。

9.根据权利1、权、权利3、权利4、权利5、权利6、权利7和权利8要求所述的一种用于补偿晶振老化的方法,其特点在于,老化实时时钟补偿时间是可以通过预先设定在时钟电路里的,根据需要按指定时间段来做间歇性修补。

10.根据权利1、权、权利3、权利4、权利5、权利6、权利7和权利8要求所述的一种用于补偿晶振老化的方法,其特点在于,此装置中含有温度传感器,老化补偿算法可以根据温度传感器的来统计晶振所处温度老化时间状态统计,写入老化补偿算法。 

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