[发明专利]一种环形近场测试探头的设计方法

权利要求书

1.一种环形近场测试探头的设计方法，它至少包括探头辐射体（1）、探头腔体（2）、射频回路（3）和射频同轴连接器（5），其特征是：探头腔体（2）是一端开口的中空绝缘壳体，其前端是圆环腔体，开口端有测试手柄（4），中间部分是杆状腔体；探头辐射体（1）呈半圆环状设置在探头腔体（2）的圆环腔体内，其末端位置位于探头腔体（2）的圆环腔体与杆状腔体的连接处；射频回路（3）设置在探头腔体（2）的另一半圆环腔体和杆状腔体内，其前芯线与探头辐射体（1）前端的外回路层搭接焊接，射频回路（3）与探头辐射体（1）在前端形成绝缘间隙（6）；射频回路（3）与探头辐射体（1）在探头腔体（2）的圆环腔体与杆状腔体连接处通过外层回路和芯线全部焊接导通；测试手柄（4）包裹在射频回路（3）的末端外侧；射频同轴连接器（5）设置在探头腔体（2）的开口端，并内嵌在测试手柄（4）的末端，射频回路（3）后端的芯线插入射频同轴连接器（5）内部且与射频同轴连接器的线芯（7）焊接导通，射频回路（3）与射频同轴连接器（5）通过外回路层360°焊接固定。

2.根据权利要求1中所述的一种环形近场测试探头的设计方法，其特征是：所述的探头腔体（2）的前端圆环腔体的直径为1厘米至12厘米。

3.根据权利要求1中所述的一种环形近场测试探头的设计方法，其特征是：所述的探头辐射体（1）与射频回路（3）都是半钢线或半柔线的射频线缆，由外回路层包裹芯线构成。

4.根据权利要求1中所述的一种环形近场测试探头的设计方法，其特征是：所述的探头辐射体（1）、射频回路（3）和射频同轴连接器（5）共同构成环巴伦接收测试装置。

5.根据权利要求1中所述的一种环形近场测试探头的设计方法，其特征是：所述的测试手柄（4）是圆柱体绝缘棒。

6.根据权利要求1中所述的一种环形近场测试探头的设计方法，其特征是：所述的射频同轴连接器（5）的类型是N型、BNC型、SMA型或TNC型。

7.根据权利要求1中所述的一种环形近场测试探头的设计方法，其特征是：所述的绝缘间隙（6）是通过射频回路（3）的芯线与探头辐射体（1）的外回路层焊接形成，绝缘间隙（6）的宽度为1毫米至4毫米。

8.根据权利要求1中所述的一种环形近场测试探头的设计方法，其特征是：这种环形近场测试探头的使用频段是1kHz至4.5GHz。