[发明专利]硅麦克风的测试装置有效
申请号: | 201210413849.2 | 申请日: | 2012-10-25 |
公开(公告)号: | CN103781010A | 公开(公告)日: | 2014-05-07 |
发明(设计)人: | 叶菁华 | 申请(专利权)人: | 上海耐普微电子有限公司;钰太科技股份有限公司 |
主分类号: | H04R29/00 | 分类号: | H04R29/00 |
代理公司: | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人: | 高磊 |
地址: | 201204 上海市浦东新区张*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 麦克风 测试 装置 | ||
技术领域
本发明涉及一种麦克风的测试装置,特别是涉及一种硅麦克风的测试装置。
背景技术
传统的硅麦克风的测试装置为开放式结构,其包括发声器和测试单元,其中,所述发声器贴在位于所述硅麦克风一侧的声孔处,所述测试单元通过信号线连接所述硅麦克风另一侧的接线端口。随着硅麦克风种类和形状的增加,声孔和接线端口按照设计需要并非一定分别位于所述硅麦克风的两侧,对于背进音式硅麦克风来说,声孔和接线端口位于所述背进音式硅麦克风的同侧,这使得现有的测试装置无法将发声器和测试单元同时设置在所述背进音式硅麦克风的同侧。
故利用现有的测试装置对背进音式硅麦克风进行测试时,或者将所述声孔背离所述发声器,以便所述测试单元练级所述接线端口;或者将所述背进音式硅麦克风吊起,并使所述声孔和接线端口面向所述发声器,以便所述声孔直接接收所述发声器提供的声音信号。上述两种方式的缺点在于:由于所述测试装置为开放式结构,若将所述声孔背离所述发声器,则所述声孔受周围环境的影响太大,所接受的声音信号的质量不高,导致测试结果失真,影响产品的成品率;若将所述声孔和接线端口面向所述发声器,则所述测试系统必须增加吊装单元以吊起硅麦克风。
为了适应今后制造出的更多种类的硅麦克风,需要对现有的硅麦克风的测试装置进行改进。
发明内容
鉴于以上所述现有技术的缺点,本发明的目的在于提供一种硅麦克风的测试装置,用于解决现有技术中的测试装置结构开放所带来的各种问题。
为实现上述目的及其他相关目的,本发明提供一种硅麦克风的测试装置,其中,所述硅麦克风包括:声孔及第一端口,所述测试装置至少包括:上端开口的测试腔体;位于所述测试腔体底部的发声器,用于向所述声孔提供声音信号;具有第二端口的测试单元,与所述发声器具有间隔、且至少一侧设置于所述测试腔体的内壁上,用于基于所述发声器输出的声音信号来测试所述硅麦克风的工作信息;其中,所述第二端口对应连接所述第一端口;以及与所述测试腔体上端连接的反射盖,用于将所述发生器输出的声音信号予以反射。
优选地,所述测试腔体竖直设置。
优选地,所述第二端口位于所述测试单元的下侧。
优选地,所述测试单元与所述发声器的间隔大于所述硅麦克风的厚度。
优选地,所述第一端口为探针,所述第二端口为相对应的探针通道。
优选地,所述测试腔体的上端与所述反射盖的连接处还设有密封圈。
优选地,所述反射盖与所述测试腔体的连接方式至少包括:卡扣连接、螺纹连接。
优选地,所述反射盖上部为弧形。
优选地,所述反射盖的上部的弧形为抛物线形、或半圆形。
如上所述,本发明的硅麦克风的测试装置,具有以下有益效果:所述测试装置利用将反射盖来封闭所述测试腔体能够防止外界噪声对声音信号的干扰,有效提高了测试的准确度,以使所述测试装置通用于任何硅麦克风;另外,特别针对所述第一端口与所述声孔位于同侧的所述硅麦克风来说,通过将本测试腔体竖直放置并在所述测试腔体上端连接所述反射盖,能够使所述测试装置有效利用所述反射盖向所述声孔提供声音信号,避免了现有测试装置中的发声器与所述声孔相背,而使声孔所接收的声音信号的质量差的问题。
附图说明
图1显示为本发明的硅麦克风的测试装置的结构示意图。
元件标号说明
具体实施方式
以下由特定的具体实施例说明本发明的实施方式,熟悉此技术的人士可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点及功效。
请参阅图1。须知,本说明书所附图式所绘示的结构、比例、大小等,均仅用以配合说明书所揭示的内容,以供熟悉此技术的人士了解与阅读,并非用以限定本发明可实施的限定条件,故不具技术上的实质意义,任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整,在不影响本发明所能产生的功效及所能达成的目的下,均应仍落在本发明所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。同时,本说明书中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中间”及“一”等的用语,亦仅为便于叙述的明了,而非用以限定本发明可实施的范围,其相对关系的改变或调整,在无实质变更技术内容下,当亦视为本发明可实施的范畴。
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