[发明专利]一种测量目标真实温度的辐射测温方法和仪器有效

专利信息
申请号: 201210417758.6 申请日: 2012-10-26
公开(公告)号: CN103048050A 公开(公告)日: 2013-04-17
发明(设计)人: 肖功弼;张文生 申请(专利权)人: 中国科学院自动化研究所
主分类号: G01J5/00 分类号: G01J5/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 宋焰琴
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 测量 目标 真实 温度 辐射 测温 方法 仪器
【权利要求书】:

1.一种测量目标真实温度的辐射测温方法,该方法包括:

步骤1,通过三波长辐射测温仪获取三个波长对应的实测亮温Tsi、目标的近似真温T以及三个比色温度Tci,其中i的值为1、2和3,三个波长为等间隔;

步骤2,根据实测亮温Ts1、Ts2、Ts3以及近似真温T的数值,确定目标在三个波长下的发射率ελ1、ελ2、ελ3

步骤3,根据步骤2计算出的目标在三个波长下的发射率值及近似真温T值,计算目标对应三个波长的比色温度Tc1’、Tc2’、Tc3’;

步骤4,根据步骤1中的实测比色温度与步骤3中计算出的比色温度,求得均方差之和∑ΔT2如下:∑ΔT2=(Tc1-Tc1’)2+(Tc2-Tc2’)2+(Tc3-Tc3’)2

步骤5,令近似真温T’=T+1,并根据实测亮温Ts1、Ts2、Ts3按照步骤2的方式计算出目标的三个波长的发射率ελ1′、ελ2′、ελ3′;

步骤6,按照步骤5计算得到的发射率ελ1′、ελ2′、ελ3′及T’=T+1的值,按照步骤3的方式计算出目标的三个比色温度值Tc1”、Tc2”、Tc3”;

步骤7,根据计算的比色温度Tc1”、Tc2”、Tc3”值与实测比色温度Tc1、Tc2、Tc3,求得均方差之和为:(∑ΔT2)’=(Tc1-Tc1”)2+(Tc2-Tc2”)2+(Tc3-Tc3”)2

步骤8,若(∑ΔT2)’<(∑ΔT2),则近似真温T’=T+1比T更接近实际真温T,则令近似真温T”=T’+1=T+2,继续重复步骤5-7,直至均方差之和最小时,即认为找出实际真温T值,

若(∑ΔT2)’>(∑ΔT2),则近似真温T’=T+1已远离实际真温T,向反方向求实际真温值,即令T’=T-1,继续按步骤5-7算出∑ΔT2,直至均方差之和最小时,即找到实际真温值T

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在近红外区,三个波长之间的间隔范围在0.1~0.3μm。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在步骤2,发射率ελ1、ελ2、ελ3通过下式求得:其中,分别为波长λ1、λ2、λ3对应的目标发射率ελ1、ελ2、ελ3;Iλi分别为波长λ1、λ2、λ3对应的目标光谱辐射强度所产生的光电流;I(λi.T)分别为波长λ1、λ2、λ3三条标定曲线,近似真温T对应的光电流。

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