[发明专利]互补型阻变存储器及制备方法无效

专利信息
申请号: 201210418767.7 申请日: 2012-10-26
公开(公告)号: CN102945923A 公开(公告)日: 2013-02-27
发明(设计)人: 潘峰;唐光盛;曾飞;陈超;刘宏燕;宋成 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00;G11C13/00;B82Y10/00
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 关畅
地址: 100084 北京市海淀区1*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 互补 型阻变 存储器 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种互补型阻变存储器,由下至上依次包括底电极、氧储备层、存储介质层和顶电极。

2.根据权利要求1所述的存储器,其特征在于:所述互补型阻变存储器,由下至上依次由所述底电极、氧储备层、存储介质层和顶电极组成。

3.根据权利要求1或2所述的存储器,其特征在于:构成所述底电极的材料为氮化钛;

构成所述氧储备层的材料为氮氧化钛;

构成所述存储介质层的材料为二氧化钛;

构成所述顶电极的材料选自铂、金、钯、钨和铝中的至少一种。

4.根据权利要求1-3任一所述的存储器,其特征在于:所述底电极的厚度为50-500nm,优选150nm;

所述氧储备层的厚度为5-50nm,优选25nm;

所述存储介质层的厚度为2-10nm,优选4nm;

所述顶电极的厚度为10-500nm,优选100nm。

5.一种制备权利要求1-4任一所述存储器的方法,包括如下步骤:

1)在衬底上制备所述底电极;

2)在所述步骤1)所得底电极的表面原位制备所述氧储备层及存储介质层;

3)在所述步骤2)所得存储介质层的表面制备所述顶电极,得到所述存储器。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于:所述步骤1)中,制备底电极的方法为磁控溅射;

所述步骤2)中,制备氧储备层及存储介质层的方法均为等离子体氧化法;

所述步骤3)中,制备顶电极的方法为磁控溅射或电子束蒸镀法。

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于:

所述步骤1)磁控溅射中,靶材为钛金属靶,溅射气氛为氩气与氧气的混合气体,总气压为0.2~1.0Pa,基片温度为25-600℃,氩气与氧气的气压比为3:5~5:3,溅射功率为5~400W;

所述步骤2)等离子体氧化法中,反应气氛为氧气,气压为1~100Pa,板压为100~2000V,射频功率为10~500W;

所述步骤3)磁控溅射中,靶材为金属靶,溅射气氛为氩气,总气压为0.2~1.0Pa,基片温度为室温,溅射功率为5~400W。

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