[发明专利]18颗粒任意位宽存储接口的单颗粒容错方法有效
申请号: | 201210423061.X | 申请日: | 2012-10-29 |
公开(公告)号: | CN102929742A | 公开(公告)日: | 2013-02-13 |
发明(设计)人: | 高剑刚;徐江川;姚玉良;宋新亮;吴智;施得君;胡舒凯 | 申请(专利权)人: | 无锡江南计算技术研究所 |
主分类号: | G06F11/10 | 分类号: | G06F11/10 |
代理公司: | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人: | 龚燮英 |
地址: | 214083 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 18 颗粒 任意 存储 接口 容错 方法 | ||
1.一种18颗粒任意位宽存储接口的单颗粒容错方法,其特征在于包括:采用256+32编码形式的纠错编码矩阵,并采用数据纵向积累校验字的方式进行校验;其中,纠错编码矩阵包括288行32列,其中纠错编码矩阵自上而下分为18个子矩阵,每个子矩阵包括16行32列;其中,在用Hi表示纠错编码矩阵的第i行、用Erj和Eri以及Ebi和Ebj表示单位矩阵情况下,纠错编码矩阵H满足以下3个条件:
第一,任意子矩阵内各行向量线性不相关;
第二,任意两个子矩阵满足Hi*Eri!=Hj*Erj(i!=j),Erj和Eri的取值范围为{1,2,3,4,5,6,…255};
第三,任意三个子矩阵满足Hi*Ebi+Hj*Ebj!=Hk*Erk(i!=j),Ebi,Ebj取值范围为{1,2,4,8,16,32,…128}。
2.根据权利要求1所述的18颗粒任意位宽存储接口的单颗粒容错方法,其特征在于,通过256+32编码的纠错编码矩阵H进行单块数据错定位及双块数据错检出;其中,将256位数据和32位校验码一起发送到目标方;目标方收到数据和校验码后,依照相同的纠错编码矩阵H,从收到的数据重新计算得到新校验码,并根据新校验码计算同步字;然后根据同步字计算特征码;并根据特征码判断在传输中是否发生了误码。
3.根据权利要求1或2所述的18颗粒任意位宽存储接口的单颗粒容错方法,其特征在于,对于18片X4颗粒组成的存储接口,前16片颗粒提供数据,后2片颗粒提供校验位,其中将前8片颗粒提供数据与倒数第2片颗粒提供的校验位合并为一个校验字,将第9至第16片颗粒提供数据与最后一片颗粒提供的校验位合并为一个校验字。
4.根据权利要求1或2所述的18颗粒任意位宽存储接口的单颗粒容错方法,其特征在于,对于18片X8颗粒组成的存储接口,前16片颗粒提供数据,后2片颗粒提供校验位,其中将前4片颗粒提供数据与倒数第2片颗粒提供的校验位的前半部分合并为一个校验字,将第5至第8片颗粒提供数据与倒数第2片颗粒提供的校验位的后半部分合并为一个校验字,将第9至第12片颗粒提供数据与最后一片颗粒提供的校验位的前半部分合并为一个校验字,将第13至第16片颗粒提供数据与最后一片颗粒提供的校验位的后半部分合并为一个校验字。
5.根据权利要求1或2所述的18颗粒任意位宽存储接口的单颗粒容错方法,其特征在于,对于18片X16颗粒组成的存储接口,前16片颗粒提供数据,后2片颗粒提供校验位,其中将前2片颗粒提供数据与倒数第2片颗粒提供的前两拍校验位合并为一个校验字,将第3至第4片颗粒提供数据与倒数第2片颗粒提供的第三拍至第四拍校验位合并为一个校验字,将第5至第6片颗粒提供数据与倒数第2片颗粒提供的第五拍至第六拍校验位合并为一个校验字,将第7至第8片颗粒提供数据与倒数第2片颗粒提供的后两拍校验位合并为一个校验字;将第9至第10片颗粒提供数据与最后一片颗粒提供的前两拍校验位合并为一个校验字,将第11至第12片颗粒提供数据与最后一片颗粒提供的第三拍至第四拍校验位合并为一个校验字,将第13至第14片颗粒提供数据与最后一片颗粒提供的第五拍至第六拍校验位合并为一个校验字,将第15至第16片颗粒提供数据与最后一片颗粒提供的后两拍校验位合并为一个校验字。
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