[发明专利]一种氮化镓薄膜层的制备方法及衬底在审

专利信息
申请号: 201210424784.1 申请日: 2012-10-30
公开(公告)号: CN103794469A 公开(公告)日: 2014-05-14
发明(设计)人: 涂冶 申请(专利权)人: 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司
主分类号: H01L21/02 分类号: H01L21/02
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 彭瑞欣;张天舒
地址: 100176 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 氮化 薄膜 制备 方法 衬底
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种氮化镓薄膜层的制备方法及衬底。

背景技术

金属有机化合物化学气相淀积(Metal-organic Chemical Vapor Deposition,简称MOCVD)是在气相外延生长基础上发展起来的一种新型气相外延生长技术,其主要以III族、II族元素的有机化合物和V、VI族元素的氢化物等作为晶体生长源材料,以热分解反应方式在衬底上进行气相外延,生长各种III-V族、II-VI族化合物半导体以及它们的多元固溶体的薄层单晶材料,如在半导体领域常使用的GaN(氮化镓)薄膜。

在利用MOCVD制备氮化镓薄膜层时,最理想的衬底是与氮化镓薄膜层同质的氮化镓衬底,然而氮化镓熔点高达2800℃,平衡蒸汽压达到4.5GPa,制备氮化镓体单晶极为困难,因此,目前衬底主要选自蓝宝石(α-Al2O3)、碳化硅(4H/6H-SiC)或硅(Si)。

然而,蓝宝石衬底与氮化镓材料存在较大的晶格失配和热失配。尽管通过图形化表面衬底技术和二次生长方法,在一定程度上可以减小薄膜内部的位错密度,但仍然很难控制薄膜的质量;同时,由于蓝宝石衬底不导电,封装LED发光器件时,需要利用光刻、刻蚀、蒸镀等复杂工艺在外延层上制备电极,这大大减小了有效发光面积,减低了外延材料的利用率;蓝宝石衬底的低热导率使器件的散热困难。

碳化硅衬底虽然与氮化镓材料的晶格失配率低,并具有良好的热传导和电传导,但是,在生长氮化镓薄膜层之前,需要在约1000℃的高温下生长AlGaN作为导电核层;而且SiC衬底价格昂贵。

硅衬底与氮化镓材料之间的晶格失配和热失配更大,生长氮化镓薄膜层的难度远超蓝宝石衬底和碳化硅衬底。

发明内容

为解决现有技术中存在的上述问题之一,本发明提供一种氮化镓薄膜层的制备方法,其制备难度低,而且可以减少生长过程中的位错密度,从而提高氮化镓薄膜层的性能。

此外,本发明还提供一种衬底,其与氮化镓薄膜层之间的晶格失配小,表面利用率高,生产成本低。

解决上述技术问题的所采用的技术方案是提供一种氮化镓薄膜层,包括以下步骤:

获取间接衬底,并对所述间接衬底进行清洗;

在所述间接衬底的表面形成石墨烯薄膜层;

在所述石墨烯薄膜层的表面形成氮化镓薄膜层。

其中,在对所述间接衬底进行清洗的步骤包括:

将甲苯、四氯化碳、丙酮、乙醇、去离子水混合获得混合清洗液;

利用所述混合清洗液对所述间接衬底进行超声清洗;

在浓硫酸和H2O2的混合液中浸泡所述间接衬底;

利用HF溶液去除所述间接衬底表面的原生氧化层;

利用去离子水冲洗所述间接衬底;

去除所述间接衬底表面的水分。

其中,所述间接衬底超声清洗5~10min,所述间接衬底在浓硫酸和H2O2的混合液中浸泡3~6min,利用去离子水冲洗所述间接衬底3~8次。

其中,利用质量浓度为2.5~4.5%的HF溶液刻蚀掉所述间接衬底表面的原生氧化层。

其中,利用高纯氮气吹干所述间接衬底,以去除所述间接衬底表面的水分。

其中,在所述间接衬底的表面制作石墨烯薄膜层的步骤包括:

在所述间接衬底的表面形成SiC薄膜层;

使所述SiC薄膜层热分解,从而在所述间接衬底的表面形成石墨烯薄膜层。

其中,通过高温升华、液相外延、磁控溅射、脉冲激光沉积、化学气相沉积或分子束外延工艺在所述间接衬底的表面形成SiC薄膜层。

其中,在所述间接衬底的表面形成SiC薄膜层的步骤包括:

在所述间接衬底表面均匀铺展聚碳硅烷;

在1050~1300℃的温度下使所述聚碳硅烷裂解形成SiC薄膜层。

其中,在所述间接衬底的表面形成石墨烯薄膜层之前还需要:

在500~900℃的温度下原位烘烤所述间接衬底1~3小时。

其中,将表面形成有所述SiC薄膜层的所述间接衬底放置在温度为1100℃以上的环境中,使所述SiC薄膜层热分解,从而在所述石墨烯薄膜层的表面形成石墨烯薄膜层。

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