[发明专利]光测定装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种进行OTDR测定及光强度测定的光测定装置。

背景技术

作为用于光纤的铺设、保养的测定装置，已知有OTDR(Optical Time Domain Reflectometer)（例如，参考专利文献1。）。专利文献1的光测定装置具备：连接部，能够与被测定光纤连接；激光模块，产生光脉冲；及光接收器，接收入射于被测定光纤的光脉冲的回光，所述测定装置进行OTDR测定。

在铺设、保养光纤的现场，实际上向被测定光纤的一端入射信号光，且在被测定光纤的另一端接收该信号光，并使用光强度测定装置还进行光强度的测定。如此，铺设、保养的负责人除了OTDR测定以外，不得不准备信号光的光源装置或光强度测定装置等多个测定装置并携带到现场。

作为一体化光源、OTDR测定装置及光强度测定装置的光测定装置，例如有如专利文献2中公开的光测定装置。

专利文献1：日本专利公开平6-167417号公报

专利文献2：日本专利申请2010-146727号

发明内容

作为光接入网的方式之一，有PON（Passive Optical Network）。在采用该PON的光接入网中，以OLT（Optical Line Terminal）与ONU（Optical Network Unit）采用1对N（N为正数）的结构。作为用于该PON的数据通信用波长，规定有上行（从ONU向OLT）为1310nm，且下行（从OLT向ONU）为1490nm的不同波长。并且最近，除了上述波长之外，作为用于从OLT发送视频信号的波长，还使用1550nm的情况越来越多。因此，在建设或保养PON时，需辨别各个波长光来测定其功率。

并且，通常光纤根据通信光波长而特性不同，有时即使在某种波长的光中损失在容许范围但在其他波长的光中损失不在容许范围。因此，在铺设或保养PON时，通常以多个通信光的波长进行OTDR测定。

但是，在专利文献2的光测定装置中，无法辨别多个不同波长的光来测定光强度或以多个通信光的波长进行OTDR测定。若是仅用于辨别多个不同波长的光来测定该光强度的用途，则能够利用称作OPN功率计的测定装置，但若仅靠该装置则无法进行OTDR测定，并且也无法用作光源，因此不得不另行准备OTDR测定装置或光源。

因此本发明的目的在于提供1台能够辨别多个不同波长的光来进行光强度测定或以多个通信光的波长进行OTDR测定且能够用作光源的光测定装置。