[发明专利]通用型高精度激光合束系统装调检测装置及其应用有效

专利信息
申请号: 201210428671.9 申请日: 2012-10-31
公开(公告)号: CN102901620A 公开(公告)日: 2013-01-30
发明(设计)人: 陈兆兵;韩旭东;郭劲;王兵;庄昕宇 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G02B7/04
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人: 南小平
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 通用型 高精度 激光 系统 检测 装置 及其 应用
【权利要求书】:

1.通用型高精度激光合束系统装调检测装置,其特征在于,包括前镜筒固定组件(1)、前镜头(2)、增量式衰减片组件(3)、连续调教系统、滤光片组件(5)、反射镜组件(6)、后镜筒下透射镜(7)、后镜筒组件(8)、后镜筒上反射镜(9)、二次组合式衰减组件(10)、激光光束探测器组件(11)、连续调焦齿轮箱组件(12);

所述连续调教系统包括外箱体组件(403)、变倍组件(401)及补偿组件(402),所述外箱体组件(403)箱体的一侧开有凸轮线槽A(403-1)和凸轮线槽B(403-2),所述变倍组件(401)的滑头A(401-1)和补偿组件(402)的滑头B(402-1)分别与凸轮线槽A(403-1)和凸轮线槽B(403-2)配合;所述连续调焦齿轮箱组件(12)带动所述连续调焦系统(4)的外箱体组件(403)转动,进而带动所述变倍组件(401)和补偿组件(402)在圆周均布的三根滑杆上左右运动实现连续调焦;

所述增量式衰减片组件(3)、所述前镜头(2)和所述前镜筒固定组件(1)从左至右同轴安放,经激光合束系统所得的激光束经由所述前镜头(2)进入,再经所述增量式衰减片组件(3)衰减后经所述连续调教系统进行连续变焦,得到的激光束经所述滤光片组件(5)滤光后照射到所述反射镜组件(6)上,经由所述反射镜组件(6)得到的反射光束穿过所述后镜筒下透镜照射到所述后镜筒上反射镜(9)上,再经所述后镜筒上反射镜(9)反射后经所述二次组合衰减组件衰减后打到所述激光光束探测器组件(11)上。

2.根据权利要求1所述的通用型高精度激光合束系统装调检测装置,其特征在于,所述前镜筒固定组件(1)上圆周至少均布6个孔;所述前镜头(2)将扩束后呈发散状态的激光束直接汇聚至所述变倍组件(401)上。所述变倍组件(401)和补偿组件(402)同轴安装在平行性的三根滑杆上,所述三根滑杆截面上圆周均布,并且与所述连续调焦系统(4)内部直接固定在一起。

3.根据权利要求1所述的通用型高精度激光合束系统装调检测装置,其特征在于,所述增量式衰减片组件(3)为可增减式衰减片组合,所述增量式衰减片组件(3)有n片衰减片,所述衰减片为可使经过的激光光束能量密度降低至10%~20%之间。

4.根据权利要求3所述的通用型高精度激光合束系统装调检测装置,其特征在于,所述衰减片n的取值范围为:0 ≤ n ≤ 6。

5.根据权利要求1所述的通用型高精度激光合束系统装调检测装置,其特征在于,所述连续调焦齿轮箱组件(12)为多组齿轮组件变速方式进行减速。

6.根据权利要求1所述的通用型高精度激光合束系统装调检测装置,其特征在于,所述滤光片组件(5)为可通过短波红外、中波红外和长波红外激光束并可滤去其他波长的杂波的滤光片。

7.根据权利要求1所述的通用型高精度激光合束系统装调检测装置,其特征在于,所述后镜筒组件(8)竖直放置,与所述外箱体组件(403)呈垂直角度;所述反射镜组件(6)中的反射镜和后镜筒上反射镜(9)均为平面反射镜;所述后镜筒下透射镜(7)为汇聚镜组。

8.根据权利要求1所述的通用型高精度激光合束系统装调检测装置,其特征在于,所述二次组合式衰减组件(10)为圆盘式结构,m个不同的衰减片(1001)圆周均布在圆盘上,所述衰减片(1001)为可使经过的激光束功率密度减低至5%~95%之间;所述激光光束探测器组件(11)中的CCD为有效接收短波红外激光束、中波红外激光束和长波红外激光束的器件。

9.根据权利要求8所述的通用型高精度激光合束系统装调检测装置,其特征在于,所述m的取值范围为:1≤ m ≤6。

10.根据权利要求1所述的通用型高精度激光合束系统装调检测装置的应用,其特征在于,所述装调检测装置能够用于对激光束与跟瞄发射转台垂直轴和俯仰轴偏差的检测与装调。

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