[发明专利]一种密封环面形测量方法有效
申请号: | 201210435817.2 | 申请日: | 2012-11-05 |
公开(公告)号: | CN102941534A | 公开(公告)日: | 2013-02-27 |
发明(设计)人: | 霍凤伟;康仁科;郭东明;冯光 | 申请(专利权)人: | 大连理工大学 |
主分类号: | B24B49/12 | 分类号: | B24B49/12;B24B49/04 |
代理公司: | 大连理工大学专利中心 21200 | 代理人: | 侯明远 |
地址: | 116024*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 密封 环面形 测量方法 | ||
1.一种密封环面形测量方法,采用一个激光位移传感器、一个光学平晶、一个工件轴、一个砂轮轴,通过激光位移传感器做非接触式测量,其特征是,激光位移传感器安装在砂轮轴的前端,其射出光束与砂轮轴的回转轴线平行,该激光位移传感器能够绕砂轮轴的回转轴线做回转运动,工件轴的前端中心处夹持光学平晶或密封环,工件轴和砂轮轴的回转运动能够联动控制。
2.根据权利要求1所述的一种密封环面形测量方法,其特征在于,测量密封环面形时需要测量砂轮轴的回转轴线相对于工件轴的回转轴线的倾斜角度。
3.根据权利要求1和2所述的一种密封环面形测量方法,其特征在于,测量砂轮轴的回转轴线相对于工件轴的回转轴线的倾斜角度时,光学平晶夹持在工件轴前端中心处且光学平晶与工件轴的轴线垂直,转动砂轮轴时激光位移传感器的光斑能够通过光学平晶的中心。
4.根据权利要求1、2和3所述的一种密封环面形测量方法,其特征在于,激光光斑中心到砂轮轴的回转轴线的距离R和光学平晶的半径R0需要给定。
5.根据权利要求1、2、3和4所述的一种密封环面形测量方法,其特征在于,测量砂轮轴的回转轴线相对于工件轴的回转轴线的倾斜角度时,工件轴固定不动,砂轮轴带动激光位移传感器转动,依次从光学平板外周边、光学平板中心和外周边另一侧选取三点进行测量,测量读数分别为hA、0和hC,砂轮轴的回转轴线的俯仰角α、砂轮轴的回转轴线的侧偏角β和Rd由下面方程组解出:
hAcosαcosβ-RsinβsinφA-RsinαcosβcosφA=h0
cosβsinφB-sinαsinβcosφB=0
RcosαcosφB-Rd=0
-sinβsinφB-sinαcosβcosφB=h0
hCcosαcosβ-RsinβsinφC-RsinαcosβcosφC=h0。
6.根据权利要求1所述的一种密封环面形测量方法,其特征在于,测量密封环面形时,通过编程实现工件轴和砂轮轴的联动,带动激光位移传感器扫描密封环表面,测得的密封环面形方程为:
其中h(θ,φ)为工件轴相位角为θ、砂轮轴相位角为φ时激光位移传感器读数。
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