[发明专利]测试系统

权利要求书

1.一种测试系统，其特征在于，包括：

一测试机台，具有一第一主通道、一第二主通道以及多个第三主通道；

一测试制具，具有多个第一次通道、一第二次通道以及多个第三次通道，其中所述多个第一次通道电连接所述第一主通道，所述第二次通道电连接所述第二主通道，所述多个第三次通道电连接所述多个第三主通道；以及

一待测芯片，包括：

多个电源垫，每一电源垫通过多个走线电连接其它电源垫；

一测试电源垫，通过所述多个走线电连接所述多个电源垫的至少一者；以及

多个信号垫；

其中当所述测试制具接触所述待测芯片时，所述多个电源垫电连接所述多个第一次通道，所述测试电源垫电连接所述第二次通道，所述多个信号垫电连接所述多个第三次通道。

2.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，在一第一测试期间下，所述测试机台通过所述第一主通道，提供一操作电压给所述多个电源垫，并通过所述多个第三主通道，提供多个第一设定信号给所述多个信号垫，用以令所述待测芯片操作于一第一模式；

在一第二测试期间下，所述测试机台通过所述第一主通道，提供所述操作电压给所述多个电源垫，并通过所述多个第三主通道，提供多个第二设定信号给所述多个信号垫，用以令所述待测芯片操作于一第二模式；

当所述待测芯片操作于所述第一模式时，所述待测芯片具有一第一耗电量，当所述待测芯片操作于所述第二模式时，所述待测芯片具有一第二耗电量，所述第二耗电量大于所述第一耗电量。

3.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，在所述第一测试期间，所述测试机台测量所述第一主通道的电流以及所述第二主通道的电压，用以产生一第一测量结果；

在所述第二测试期间，所述测试机台测量所述第一主通道的电流以及所述第二主通道的电压，用以产生一第二测量结果；以及

所述测试机台根据第一及第二测量结果，得知所述第一通道的一等效阻抗。

4.如权利要求3所述的测试系统，其特征在于，所述测试机台根据所述等效阻抗，调整所述操作电压。

5.如权利要求3所述的测试系统，其特征在于，所述测试机台根据所述等效阻抗，调整所述测试制具接触所述待测芯片的压力。

6.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述待测芯片并未经过一封装程序。

7.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述待测芯片已经过一封装程序。

8.如权利要求7所述的测试系统，其特征在于，所述待测芯片更包括：

多个锡球；以及

一基板，耦接于所述多个锡球与所述多个电源垫及所述测试电源垫之间，用以使所述多个锡球电连接所述多个电源垫及所述测试电源垫。