[发明专利]半导体器件的制造方法无效

专利信息
申请号: 201210437354.3 申请日: 2012-11-05
公开(公告)号: CN103094426A 公开(公告)日: 2013-05-08
发明(设计)人: 虞浩辉;周宇杭 申请(专利权)人: 江苏威纳德照明科技有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00
代理公司: 南京天翼专利代理有限责任公司 32112 代理人: 黄明哲
地址: 213342 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 半导体器件 制造 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种半导体器件的制造方法

背景技术

荧光灯和白炽灯是现在广泛应用的照明光源,但是它们有很大的缺陷,就是发光的效率太低,找到光转换效率高的新光源来替代这些传统光源,是实现节能减排的重要途径之一。LED是一种新型的光源,其发光的效率很高。半导体照明有节能、安全、寿命长、节能美观、绿色环保、可微型化、色彩丰富等优点,并且耐高温高压,耐酸碱腐蚀,即使在严酷的条件下也能正常工作。实现LED白光照明的途径主要有三种:一是蓝光LED激发黄色荧光粉发白光;二是紫外LED配合红、绿、蓝三色荧光粉发白光;三是由红绿蓝三色LED混合成白光。其中第一种方法是现阶段实现LED照明的最有效手段。

以GaN为代表的三族氮化物(AlN、GaN、InN、AlGaInN)由于具有优良的光电特性,因而在蓝光、绿光、紫外发光二极管(LED)及高频、高温大功率电子器件中得到广泛应用。由于缺乏晶格匹配的衬底,三族氮化物都是异质外延在其他材料上,常用的衬底有蓝宝石、碳化硅、硅、砷化镓、氧化锌等,常用的外延方法有金属有机物化学气相沉积(MOCVD)、分子束外延(MBE)和氢化物气相外延(HVPE)等。由于和衬底的晶格失配及热失配很大,即使采用低温GaN缓冲层技术后,外延的氮化物中仍存在大量的缺陷,包括由于晶格失配导致的位错、层错等。GaN基材料中的缺陷影响材料的发光性能,同时降低了发光二极管的可靠性。

发明内容

为克服现有技术的不足,本发明提供一种半导体器件的制造方法,尤其提供了一种发光二极管的制造方法,该方法可以降低材料的位错密度,同时减少量子限制斯塔克效应的影响。

本发明的发光二极管的制造方法包括以下步骤:

(1)在蓝宝石衬底1的(0001)方向上生长GaN缓冲层2;

(2)在GaN缓冲层上蒸镀N型电极3;

(3)在N型电极3上蒸镀量子阱反射层4;

(4)在量子阱反射层4上生长一层厚度30~40μm的金属层;

利用干法刻蚀技术将该金属层制备成周期排列的条状金属层5;

(5)在周期排列的条状金属层5上外延生长N型GaN层6;

(6)在N型GaN层6上生长有源层7;

(7)在有源层7上生长P型GaN层8;

(8)在P型GaN层8上生长P型电极9。

其中,

步骤(2)中,N型电极3优选为Ag。

步骤(3)中,量子阱反射层4优选为逐层形成的Ag、Ni、Ti层。其厚度优选为120~150nm。

步骤(4)中,金属层优选为Au,条状金属层之间的间隔优选为60~80μm。

步骤(6)中,有源层7为AlInGaN多量子阱层。

步骤(8)中,先用CF4处理P型GaN层8表面,然后在P型GaN层8表面蒸镀Al,形成与P型GaN层8欧姆接触的P型电极。P型电极厚度为在400-500nm。

附图说明

图1为根据本发明方法制成的发光二极管的结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述,但不作为对本发明的限定。

本发明的发光二极管的制造方法,包括以下步骤:

(一)在蓝宝石衬底1的(0001)方向上生长GaN缓冲层2;

(二)在GaN缓冲层上蒸镀N型电极3;N型电极3优选为Ag。

(三)在N型电极3上蒸镀量子阱反射层4;量子阱反射层4优选为逐层形成的Ag、Ni、Ti层。其厚度优选为120~150nm。

(四)在量子阱反射层4上生长一层厚度30~40μm的金属层;利用干法刻蚀技术将该金属层制备成周期排列的条状金属层5;金属层优选为Au,条状金属层之间的间隔优选为60~80μm;

(五)在周期排列的条状金属层5上外延生长N型GaN层6;

(六)在N型GaN层6上生长有源层7;有源层7为AlInGaN多量子阱层;

(七)在有源层7上生长P型GaN层8;

(八)在P型GaN层8上生长P型电极9。具体地,用CF4处理P型GaN层8表面,然后在P型GaN层8表面蒸镀Al,形成与P型GaN层8欧姆接触的P型电极。P型电极厚度为在400-500nm。

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