[发明专利]测试设备及其测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及测试技术领域，特别是涉及一种测试设备及其测试方法。

背景技术

LED（Light Emitting Diode,发光二极管）是一种能够将电能转化为可见光的固态的半导体器件，由于其具有寿命长、光效高、无辐射与低功耗等特点，常被用于各种现代电子设计与系统中，以提供影像显示与状态显示的功能。在很多电子设备中，通常LED不是单个的存在，而是大量有规律的结合，例如以矩阵的形式，然而这种存在形式增加了在生产过程中对其的测试难度。

现有技术中，对LED灯矩阵的测试通常采用目测方式进行测试，但这种测试方式存在以下缺点：

1.容易受到人眼疲劳等人为因素影响，造成漏检或误测；

2.需要专人对其进行测试，成本较高且效率较低。

发明内容

本发明主要解决的技术问题是提供一种测试设备及其测试方法，能够提高测试的可靠度和准确度，提高测试效率。

为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种测试设备，用于测试LED灯矩阵，该测试设备包括上位机、信号转换装置以及信号反馈装置。上位机用于产生系统控制信号；信号转换装置与上位机连接，用于从上位机接收系统控制信号，并根据系统控制信号输出多路TTL电平信号，该多路TTL电平信号用于对LED灯矩阵进行测试；信号反馈装置与上位机连接，用于测量LED灯矩阵中的电流值，并将测量结果反馈至上位机，其中，上位机还用于在获取到测量结果后，根据测量结果判断LED灯矩阵测试是否通过。

其中，信号转换装置包括信号转换模块和信号驱动模块。信号转换模块通过USB总线与上位机连接，用于从上位机接收系统控制信号，以及将系统控制信号转换为I²C信号；信号驱动模块通过I²C总线与信号转换模块连接，用于从信号转换模块接收I²C信号，以及根据I²C信号输出多路TTL电平信号。

其中，LED灯矩阵与信号驱动模块形成回路，从信号驱动模块接收多路TTL电平信号，以驱动LED灯矩阵。

其中，信号驱动模块具有行输出控制和列输出控制，行输出控制用于驱动LED灯矩阵的行，列输出控制用于驱动LED灯矩阵的列。

其中，LED灯矩阵为多个，信号驱动模块为多个，信号驱动模块与LED灯矩阵一一对应，多个信号驱动模块并联于I²C总线上。

其中，信号转换模块为USB总线转接芯片。

其中，信号驱动模块为LED灯矩阵驱动芯片。

其中，信号反馈装置为程控电源，程控电源通过通用接口总线与上位机连接。

为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是：提供一种测试设备的测试方法。该测试方法包括：产生系统控制信号；接收系统控制信号，并根据系统控制信号输出多路TTL电平信号；利用多路TTL电平信号对LED灯矩阵进行测试；测量LED灯矩阵中的电流值；根据测量结果判断LED灯矩阵测试是否通过。

其中，接收系统控制信号，并根据系统控制信号输出多路TTL电平信号的步骤具体为：接收系统控制信号，将系统控制信号转换为I²C信号；接收I²C信号，根据I²C信号输出多路TTL电平信号。

本发明的测试设备及其测试方法通过将上位机发出的系统控制信号转换为多路TTL电平信号，多路TTL电平信号驱动LED灯矩阵以进行测试，根据测试时LED灯矩阵中的电流值来判断LED灯矩阵测试是否通过，相比现有技术中采用人工目测而言，能够提高测试的可靠度和准确度，提高测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，其中：

图1是本发明测试设备第一实施例的结构示意图；

图2是本发明测试设备第二实施例的结构示意图；

图3是本发明测试设备第三实施例的结构示意图；

图4是图3所示的测试设备的LED灯矩阵驱动芯片与LED灯矩阵的连接示意图；

图5是本发明测试设备的测试方法实施例的流程示意图。

具体实施方式