[发明专利]一种利用光栅检测微电流的装置

说明书

技术领域

本发明涉及微电流检测技术领域，特别涉及一种利用光栅检测微电流的装置。

背景技术

在电力输送和应用过程中，经常需要对电流进行严格监控，目前对小电流的检测的一个有效途径就是是通过光纤电流传感器，但是目前的光纤电流传感器灵敏度和稳定性不可兼得，提高灵敏度要以牺牲稳定性为前提，成为该领域的难点之一。

发明内容

为了克服上述现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种利用光栅检测微电流的装置，具有结构简单使用方便的特点。

基于此，本发明采用的技术方案是：

一种利用光栅检测微电流的装置，包括圆柱磁体1，在圆柱磁体1上与磁场方向垂直缠绕有光栅2，光栅2上涂覆金属导电层，金属导电层在光栅2的入射光一端接电流输入端子4，金属导电层在光栅2的出射光一端接电流输出端子5，光栅2的出射光一端接信号处理模块3。

与现有技术相比，本发明具有良好的稳定性和灵敏度，同时大幅降低了成本。

附图说明

附图为本发明的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明进行更详尽的说明。

如图所示，本发明为一种利用光栅检测微电流的装置，包括圆柱磁体1，在圆柱磁体1上与磁场方向垂直缠绕有光栅2，光栅2上涂覆金属导电层，金属导电层在光栅2的入射光一端接电流输入端子4，金属导电层在光栅2的出射光一端接电流输出端子5，光栅2的出射光一端接信号处理模块3。

本发明的工作过程是：

将待测电流从电流输入端子4接入，从电流输出端子5接出，带有金属导电层的光栅2既作为光载体，又作为电导体，通电后，光栅2受到磁场作用力发生形变，该形变会使其反射波的峰值波长发生一定的位移，信号处理模块3根据该位移量即可得到相应的待测电流大小。