[发明专利]导电黑色聚酰亚胺薄膜空间环境作用下失效分析方法

权利要求书

1.一种导电黑色聚酰亚胺薄膜空间环境作用下失效分析方法，其特征在于：首先利用地面环模设备对导电黑色聚酰亚胺薄膜进行其空间环境效应模拟试验，得出其在空间环境作用下的性能退化规律；然后用表面分析技术对空间环境作用前后的导电黑色聚酰亚胺薄膜进行微观分析，研究其微观结构变化规律；其次进行导电黑色聚酰亚胺薄膜宏观性能测试与分析，建立导电黑色聚酰亚胺薄膜空间环境作用下的宏观性能变化与微观结构变化的对应关系，最后分析其微观结构变化对宏观性能退化的影响，以此为基础判断空间环境作用下导电黑色聚酰亚胺薄膜失效情况。

2.如权利要求1所述的一种导电黑色聚酰亚胺薄膜空间环境作用下失效分析方法，其特征在于：其中所述的导电黑色聚酰亚胺薄膜空间环境效应模拟试验包括原子氧、紫外辐照和带电粒子辐照空间环试验。

3.如权利要求2所述的一种导电黑色聚酰亚胺薄膜空间环境作用下失效分析方法，其特征在于：其中所述的原子氧、紫外辐照试验设备包括氧气输入系统、微波等离子体同轴源系统、电控系统及计算机控制系统、紫外辐照系统、电磁线圈系统、中性化系统、样品架、样品室及真空系统、光学原位测量；由微波等离子体同轴源产生微波能量，并将微波能量耦合，在微波能量的作用下，氧气被离解为氧等离子体，并在磁场的约束作用下，形成氧等离子体；中性化板加负偏压，加速等离子态中的氧离子，使其获得定向能量，氧离子入射到中性化板上并从中得到电子，复合成中性氧原子。

4.如权利要求1或2或3所述的一种导电黑色聚酰亚胺薄膜空间环境作用下失效分析方法，其特征在于：其中所述的导电黑色聚酰亚胺薄膜宏观性能测试与分析根据导电黑色聚酰亚胺薄膜用途和性能，测试导电黑色聚酰亚胺薄膜空间环境效应作用前后的质量、表面电阻率、半球发射率和太阳吸收比；其中质量测量采用微量天平测量测量导电黑色聚酰亚胺薄膜空间环境效应前后质量；表面电阻率采用万用表测量导电黑色聚酰亚胺薄膜空间环境效应前后的电阻率；太阳吸收比采用连续辐射试验的情况下进行太阳吸收率原位测量；半球发射率采用材料热发射特性测试仪测试热控涂层红外发射率。

5.如权利要求1或2或3所述的一种导电黑色聚酰亚胺薄膜空间环境作用下失效分析方法，其特征在于：其中所述的导电黑色聚酰亚胺薄膜微观分析采用X射线光电子能谱仪对空间环境作用前后的导电黑色聚酰亚胺薄膜的元素组成、化学态及其分布等微观信息进行分析，采用原子力显微镜对空间环境作用前后的导电黑色聚酰亚胺薄膜的表面结构和表面形貌进行分析，得到导电黑色聚酰亚胺薄膜空间环境效应前后的表面形貌分析、表面成分分析和表面结构分析微观信息。