[发明专利]一种去除光阻蚀刻残留物的清洗液有效
申请号: | 201210451687.1 | 申请日: | 2012-11-12 |
公开(公告)号: | CN103809394B | 公开(公告)日: | 2019-12-31 |
发明(设计)人: | 刘兵;彭洪修;孙广胜;颜金荔 | 申请(专利权)人: | 安集微电子科技(上海)股份有限公司 |
主分类号: | G03F7/42 | 分类号: | G03F7/42 |
代理公司: | 11352 北京大成律师事务所 | 代理人: | 李佳铭 |
地址: | 201201 上海市浦东新区华东路*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 去除 蚀刻 残留物 清洗 | ||
1.一种去除光阻蚀刻残留物的清洗液,其特征在于,所述清洗液由氟化物、有机溶剂、水、氧化剂以及螯合剂组成,其中所述氧化剂选自双氧水、过硫酸、过硫酸铵、过氧乙酸、过氧乙酸铵中的一种或多种,所述有机溶剂的含量为10-75wt%,所述氧化剂的含量为0.5-5wt%,所述的氟化物选自氟化铵、氟化氢铵中的一种或多种;清洗温度为20℃-50℃;所述的螯合剂选自有机多胺、有机多元酸中的一种或多种;所述有机多胺选自二乙烯三胺、五甲基二乙烯三胺和多乙烯多胺中的一种或多种;所述有机多元酸选自乙二酸、丙二酸、丁二酸、戊二酸、己二酸、柠檬酸、酒石酸、苹果酸、富马酸、马来酸、邻苯二甲酸、间苯二甲酸、对苯二甲酸、亚氨基二乙酸、氨三乙酸、乙二胺四乙酸、反-1,2-环己二胺四乙酸中的一种或多种;所述螯合剂的含量为0.05-20wt%。
2.如权利要求1所述的清洗液,其特征在于,所述氟化物的含量为0.05-20wt%。
3.如权利要求1所述的清洗液,其特征在于,所述有机溶剂的含量为20-60wt%。
4.如权利要求1所述的清洗液,其特征在于,所述水的含量为15-85wt%。
5.如权利要求1所述的清洗液,其特征在于,所述的有机溶剂选自亚砜、砜、咪唑烷酮、吡咯烷酮、咪唑啉酮、酰胺、醇、醇胺和醇醚中的一种或多种。
6.如权利要求5所述的清洗液,其特征在于,所述的亚砜选自二甲基亚砜和甲乙基亚砜中的一种或多种,所述的砜选自甲基砜、环丁砜中的一种或多种;所述的咪唑烷酮选自2-咪唑烷酮和1,3-二甲基-2-咪唑烷酮中的一种或多种;所述的吡咯烷酮选自N-乙基吡咯烷酮、N-环己基吡咯烷酮和N-羟乙基吡咯烷酮中的一种或多种;所述的咪唑啉酮为1,3-二甲基-2-咪唑啉酮;所述的酰胺选自二甲基甲酰胺和二甲基乙酰胺中的一种或多种;所述的醇选自异丙醇、丙二醇和丙三醇中的一种或多种;所述的醇胺选自乙醇胺、二乙醇胺、三乙醇胺中的一种或多种;所述的醇醚选自乙二醇烷基醚、丙二醇烷基醚中的一种或多种。
7.如权利要求6所述的清洗液,其特征在于,所述的乙二醇烷基醚选自乙二醇单乙醚、二乙二醇单甲醚和二乙二醇单丁醚中的一种或多种;所述的丙二醇烷基醚选自丙二醇单甲醚、丙二醇单丁醚和二丙二醇单甲醚中的一种或多种。
8.如权利要求1所述的清洗液,其特征在于,所述清洗液不含有无机和/或有机的纳米和/或微米颗粒。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于安集微电子科技(上海)股份有限公司,未经安集微电子科技(上海)股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210451687.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:弯曲的显示设备
- 下一篇:纳米晶显示装置及其形成方法