[发明专利]一种针对X射线闪烁屏的性能测试装置无效

专利信息
申请号: 201210451964.9 申请日: 2012-11-12
公开(公告)号: CN102937510A 公开(公告)日: 2013-02-20
发明(设计)人: 赵博震;秦秀波;杨胜宇;魏存峰;魏龙 申请(专利权)人: 中国科学院高能物理研究所
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;G01M11/02
代理公司: 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 代理人: 郑立明;陈亮
地址: 100039 北京市石景山区玉*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 针对 射线 闪烁 性能 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种针对X射线闪烁屏的性能测试装置,其特征在于,所述装置包括X射线源、限束器、测试器件、闪烁屏、光学组件和光电转换器件,其中:

所述X射线源用于产生具有特定能谱和发散角的X射线;

所述限束器固定在所述X射线源的出口处,用于控制X射线的辐射区域;

所述测试器件固定在所述限束器和所述闪烁屏之间,用于屏蔽部分X射线以在所述闪烁屏上形成刀口边缘图像;

所述光学组件用于将所述闪烁屏输出的可见光成像在所述光电转换器件上;该光学组件包括可调式透镜组,所述可调式透镜组将所述闪烁屏输出的可见光对焦至所述光电转换器件的成像面,且该可调式透镜组与所述光电转换器件的相对距离能在一定范围内调节;

所述光电转换器件用于探测所述闪烁屏的输出光,并将其转换为电信号。

2.如权利要求1所述针对X射线闪烁屏的性能测试装置,其特征在于,所述可调式透镜组由单一或若干透镜,以及位移机构组成,其中:

所述位移机构用于固定透镜并在一定范围内调节透镜与所述光电转换器件的相对距离。

3.如权利要求1所述针对X射线闪烁屏的性能测试装置,其特征在于,所述限束器进一步包括限束板和支架,其中:

所述限束板内部开孔且孔径可调整,用于约束所述X射线源发出的X射线的辐射区域;

所述支架用于固定所述限束板且位置可调整,用于将X射线的辐射区域限制在所述闪烁屏上。

4.如权利要求1所述针对X射线闪烁屏的性能测试装置,其特征在于,所述光学组件进一步包括反射镜,所述反射镜固定在所述闪烁屏和所述可调式透镜组之间,用于反射所述闪烁屏的输出光以改变光路使得所述光电转换器件处于X射线辐射范围之外。

5.如权利要求1所述针对X射线闪烁屏的性能测试装置,其特征在于,

所述闪烁屏、光学组件和光电转换器件固定在同一盒体中,用于屏蔽所述闪烁屏以外的光源干扰;

且所述闪烁屏、光学组件和光电转换器件处于同轴状态,所述光学组件和闪烁屏进行位置调节时的移动方向为该同轴系统的轴向方向。

6.如权利要求1所述针对X射线闪烁屏的性能测试装置,其特征在于,所述装置还包括:

数据采集单元,用于控制所述光电转换器件的采集参数,并采集和存储所述光电转换器件所生成的图像;

数据分析单元,用于存储所述可调式透镜组和所述光电转换器件的标定参数,所述标定参数包括所述可调式透镜组和光电转换器件的调制传递函数、空间响应和强度响应,并进一步结合系统设置的标定参数进行校正计算,得出所述闪烁屏的调制传递函数、发光不均匀性和发光强度参数。

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