[发明专利]一种定量表征水泥基材料孔隙率增加量空间分布的方法无效
申请号: | 201210454729.7 | 申请日: | 2012-11-14 |
公开(公告)号: | CN102944505A | 公开(公告)日: | 2013-02-27 |
发明(设计)人: | 万克树;李林;徐琼 | 申请(专利权)人: | 东南大学 |
主分类号: | G01N15/08 | 分类号: | G01N15/08 |
代理公司: | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 柏尚春 |
地址: | 211189 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 定量 表征 水泥 基材 孔隙率 增加量 空间 分布 方法 | ||
1.一种定量表征水泥基材料孔隙率增加量空间分布的方法,其特征在于,该方法用溶蚀前后的两次X射线断层照相的灰度信息来计算孔隙率增加量,具体包括以下步骤:
步骤1:取一溶蚀前水泥基材料样品,利用抽真空方法进行饱水,然后对饱水样品进行第一次X射线断层照相测试,获得溶蚀前样品的三维断层图像数据Gbefore(x,y,z);
步骤2:对所述溶蚀前水泥基材料样品进行溶蚀;
步骤3:对溶蚀后的水泥基材料样品再次进行真空饱水,然后在与步骤1相同的测试条件下进行第二次X射线断层照相测试,获得溶蚀后样品的三维断层图像数据Gafter(x,y,z);
步骤4:用Gbefore(x,y,z)对Gafter(x,y,z)进行刚体配准,配准后的数据为
步骤5:取氢氧化钙粉晶,用压片机压成规则形状的氢氧化钙压片,用称重法结合测量体积法获得所述氢氧化钙压片的表观密度ρCH-表现,结合氢氧化钙理论密度ρCH获得所述氢氧化钙压片的孔隙率为ρCH-表观/ρCH,然后在与步骤1相同的测试条件下对氢氧化钙压片进行X射线断层照相测试,获得氢氧化钙压片样品在不同空间位置的三维断层图像数据GCH-表观(x,y,z),取不同空间位置三维断层图像数据的平均值用下式计算得到氢氧化钙晶体的灰度值GCH:
步骤6:利用下列公式计算得到因溶蚀而导致孔隙率增加量的三维空间分布□φ(x,y,z):其中Gwater是与步骤1相同的测试条件下水的灰度值。
2.根据权利要求1所述的定量表征水泥基材料孔隙率增加量空间分布的方法,其特征在于,所述步骤6中的Gwater是直接从饱水的大孔中读取得到的。
3.根据权利要求1或2所述的定量表征水泥基材料孔隙率增加量空间分布的方法,其特征在于,所述的X射线断层照相测试是采用医用、工业、显微或纳米X射线断层照相装置实施的。
4.根据权利要求1或2所述的定量表征水泥基材料孔隙率增加量空间分布的方法,其特征在于,所述的溶蚀前水泥基材料样品为水泥净浆、砂浆或混凝土。
5.根据权利要求1或2所述的定量表征水泥基材料孔隙率增加量空间分布的方法,其特征在于,所述步骤2中的溶蚀为硝酸铵溶液溶蚀。
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