[发明专利]光信息记录、再现、记录再现装置及其方法

权利要求书

1.一种光信息再现装置，其对全息记录介质进行再现，该全息记录介质是将使参考光与信号光干涉而得到的干涉条纹作为全息图记录的全息记录介质，该光信息再现装置的特征在于，包括：

光检测器，其对被记录的全息图照射所述参考光，检测得到的再现光；

光学元件，其使参考光分支而生成第一参考光和第二参考光；

波面检测器，其使所述第一参考光与所述第二参考光干涉，由此检测波面像差；和

波面补偿器，其对所述参考光的波面进行补偿，

基于所述波面检测器的输出调整所述波面补偿器。

2.如权利要求1所述的光信息再现装置，其特征在于：

所述第一参考光是入射到记录介质之前的参考光，

所述第二参考光是入射到记录介质之后的参考光。

3.如权利要求1所述的光信息再现装置，其特征在于：

所述第一参考光是入射到规定的光学系统之前的参考光，

所述第二参考光是入射到规定的光学系统之后的参考光。

4.如权利要求1所述的光信息再现装置，其特征在于：

基于预先记录的全息图的再现品质调整所述波面补偿器，将所述波面检测器的输出作为基准波面存储，

再现所要求的全息图时，基于所述波面检测器的输出与所述基准波面的比较结果调整所述波面补偿器。

5.如权利要求1所述的光信息再现装置，其特征在于：

所述波面检测器与所述光检测器共用。

6.一种光信息再现装置，其对全息记录介质进行再现，该全息记录介质是将使参考光与信号光干涉而得到的干涉条纹作为全息图记录的全息记录介质，该光信息再现装置的特征在于，包括：

光检测器，其对被记录的全息图照射所述参考光，检测得到的再现光；

波面检测器，其检测透过所述记录介质后的所述参考光的波面像差；和

波面补偿器，其对所述参考光的波面进行补偿，

基于所述波面检测器的输出调整所述波面补偿器。

7.一种光信息记录装置，其将使参考光与信号光干涉而得到的干涉条纹作为全息图记录于全息记录介质，该光信息记录装置的特征在于，包括：

光学元件，其使参考光分支而生成第一参考光和第二参考光；

波面检测器，其使所述第一参考光与所述第二参考光干涉，由此检测波面像差；和

波面补偿器，其对所述参考光的波面进行补偿，

基于所述波面检测器的输出调整所述波面补偿器。

8.如权利要求7所述的光信息记录装置，其特征在于：

所述第一参考光是入射到记录介质之前的参考光，

所述第二参考光是入射到记录介质之后的参考光。

9.如权利要求7所述的光信息记录装置，其特征在于：

所述第一参考光是入射到规定的光学系统之前的参考光，

所述第二参考光是入射到规定的光学系统之后的参考光。

10.如权利要求7所述的光信息记录装置，其特征在于：

具备光检测器，其对被记录的全息图照射所述参考光，检测得到的再现光，

基于预先记录的全息图的再现品质调整所述波面补偿器，将所述波面检测器的输出作为基准波面存储，

再现所要求的全息图时，基于所述波面检测器的输出与所述基准波面的比较结果调整所述波面补偿器。

11.如权利要求7所述的光信息记录装置，其特征在于：

具备光检测器，其对被记录的全息图照射所述参考光，检测得到的再现光，

所述波面检测器与所述光检测器共用。

12.一种光信息记录再现方法，将使参考光与信号光干涉而得到的干涉条纹作为全息图记录于全息记录介质，对记录有全息图的全息记录介质进行再现，该光信息记录再现方法的特征在于：

对被记录的全息图照射所述参考光，检测得到的再现光，

使参考光分支而生成第一参考光和第二参考光，

使所述第一参考光与所述第二参考光干涉，从而检测波面像差，

基于所述波面像差调整所述参考光的波面。