[发明专利]光电转换装置及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201210459210.8 申请日: 2008-11-14
公开(公告)号: CN102931240A 公开(公告)日: 2013-02-13
发明(设计)人: 山崎舜平;荒井康行 申请(专利权)人: 株式会社半导体能源研究所
主分类号: H01L31/02 分类号: H01L31/02;H01L31/0368;H01L31/0376;H01L31/0687;H01L31/0725
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 屠长存
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 光电 转换 装置 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种光电转换装置,包括:

在支撑衬底上形成的绝缘层;

在所述绝缘层上形成的第一电极;

在所述第一电极上形成的第一杂质半导体层;

在所述第一杂质半导体层上形成的单晶半导体层;

在所述单晶半导体层上形成的非晶半导体层;

在所述非晶半导体层上形成的第二杂质半导体层;以及

在所述第二杂质半导体层上形成的第二电极。

2.根据权利要求1所述的光电转换装置,其中所述单晶半导体层的厚度为0.1μm以上且10μm以下。

3.根据权利要求1所述的光电转换装置,还包括在所述第二杂质半导体层上形成的导电簇。

4.一种光电转换装置,包括:

在支撑衬底上形成的绝缘层;

在所述绝缘层上形成的第一电极;

在所述第一电极上形成的第一杂质半导体层;

在所述第一杂质半导体层上形成的单晶半导体层;

在所述单晶半导体层上形成的第二杂质半导体层;

在所述第一杂质半导体层上形成的第三杂质半导体层;

在所述第三杂质半导体层上形成的第一非晶半导体层;

在所述第一非晶半导体层上形成的第四杂质半导体层;

在所述第四杂质半导体层上形成的第五杂质半导体层;

在所述第五杂质半导体层上形成的第二非晶半导体层;

在所述第二非晶半导体层上形成的第六杂质半导体层;以及

在所述第六杂质半导体层上形成的第二电极。

5.根据权利要求4所述的光电转换装置,其中所述单晶半导体层的厚度为0.1μm以上且10μm以下。

6.根据权利要求4所述的光电转换装置,其中所述单晶半导体层为单晶硅,并且所述第一非晶半导体层和所述第二非晶半导体层为非晶硅。

7.根据权利要求4所述的光电转换装置,还包括在所述第二杂质半导体层上形成的导电簇。

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