[发明专利]光电转换装置及其制造方法有效
申请号: | 201210459210.8 | 申请日: | 2008-11-14 |
公开(公告)号: | CN102931240A | 公开(公告)日: | 2013-02-13 |
发明(设计)人: | 山崎舜平;荒井康行 | 申请(专利权)人: | 株式会社半导体能源研究所 |
主分类号: | H01L31/02 | 分类号: | H01L31/02;H01L31/0368;H01L31/0376;H01L31/0687;H01L31/0725 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 屠长存 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光电 转换 装置 及其 制造 方法 | ||
1.一种光电转换装置,包括:
在支撑衬底上形成的绝缘层;
在所述绝缘层上形成的第一电极;
在所述第一电极上形成的第一杂质半导体层;
在所述第一杂质半导体层上形成的单晶半导体层;
在所述单晶半导体层上形成的非晶半导体层;
在所述非晶半导体层上形成的第二杂质半导体层;以及
在所述第二杂质半导体层上形成的第二电极。
2.根据权利要求1所述的光电转换装置,其中所述单晶半导体层的厚度为0.1μm以上且10μm以下。
3.根据权利要求1所述的光电转换装置,还包括在所述第二杂质半导体层上形成的导电簇。
4.一种光电转换装置,包括:
在支撑衬底上形成的绝缘层;
在所述绝缘层上形成的第一电极;
在所述第一电极上形成的第一杂质半导体层;
在所述第一杂质半导体层上形成的单晶半导体层;
在所述单晶半导体层上形成的第二杂质半导体层;
在所述第一杂质半导体层上形成的第三杂质半导体层;
在所述第三杂质半导体层上形成的第一非晶半导体层;
在所述第一非晶半导体层上形成的第四杂质半导体层;
在所述第四杂质半导体层上形成的第五杂质半导体层;
在所述第五杂质半导体层上形成的第二非晶半导体层;
在所述第二非晶半导体层上形成的第六杂质半导体层;以及
在所述第六杂质半导体层上形成的第二电极。
5.根据权利要求4所述的光电转换装置,其中所述单晶半导体层的厚度为0.1μm以上且10μm以下。
6.根据权利要求4所述的光电转换装置,其中所述单晶半导体层为单晶硅,并且所述第一非晶半导体层和所述第二非晶半导体层为非晶硅。
7.根据权利要求4所述的光电转换装置,还包括在所述第二杂质半导体层上形成的导电簇。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的