[发明专利]一种基于受抑全内反射技术的纯平多点触摸检测系统

权利要求书

1.一种基于受抑全内反射技术的纯平多点触摸检测系统，其特征在于，其包括：

透明基板，用于传导光在其内形成全内反射，所述透明基板设置有上表面、下表面和各个侧边；

一个或多个光源，设置在所述透明基板的各个侧边，用于将光信号按要求的时序传导至所述透明基板内形成全内反射传输；

一个或多个光感测设备，所述光感测设备被耦合在所述透明基板各个侧边上，用以检测经所述透明基板内传输的光信号受抑制后逸出所述透明基板的光信号和全内反射光信号的衰减，从而定位所述透明基板表面的一个或多个接触位置；

一信息处理系统，通过计算处理传输的光信号来定位在所述透明基板上表面一个或多个接触点的位置；所述信息处理系统通过一根或多根信号线与所述光源及光感测设备通信。

2.根据权利要求1所述的纯平多点触摸检测系统，其特征在于，在所述透明基板上耦合了所述光源的侧边的正对侧边及相邻侧边耦合所述光感测设备，所述光源和光感测设备并成对设置。

3.根据权利要求1所述的纯平多点触摸检测系统，其特征在于，所述透明基板的侧边是一定角度抛光的抛光侧边，所述一定角度为使所述光信号在所述基板内形成全内反射的最小入射角，即临界角。

4.根据权利要求1所述的纯平多点触摸检测系统，其特征在于，所述光源和光感测设备设置在透明基板的下表面并与所述透明基板的下表面形成一定夹角，所述夹角为最小入射角，即临界角。

5.根据权利要求3或4所述的纯平多点触摸检测系统，其特征在于，所述临界角θ_c计算方程为：

θc=arcsinn2n1]]>

其中，n₂是较低密度介质的折射率，n₁是较高密度介质的折射率。

6.根据权利要求1所述的纯平多点触摸检测系统，其特征在于，所述透明基板上还设置有一能使光信号在其内形成全内反射的柔性层。

7.根据权利要求1或2所述的纯平多点触摸检测系统，其特征在于，所述光源采用的是具有发射要求的角度范围光信号的光源，所述光源被耦合在所述透明基板的各个侧边上，使得所述发射的光信号在所述透明基板内形成具有要求的角度范围的全内反射。

8.根据权利要求1所述的纯平多点触摸检测系统，其特征在于，所述的信息处理系统采用的是一个微处理器或控制电路；所述信号线以控制光源发射光信号在透明基板内形成全内反射并将光感测设备侦测到的光信号传输到微处理器或控制电路；所述微处理器或控制电路通过算法处理所述信号线传输来的光信号，将所述透明基板上表面的一个或多个接触转换为计算机或其他设备能识别的坐标信息。

9.根据权利要求1所述的纯平多点触摸检测系统，其特征在于，所述透明基板采用的是亚克力材料或玻璃。

10.根据权利要求1至3任意一项所述的纯平多点触摸检测系统，其特征在于，所述上表面和下表面的至少一面的四周外沿部分设置有遮挡耦合在其各个抛光侧边的光源和光感测设备的遮挡层，所述遮挡层采用的是印刷不透明油墨的油墨层。

11.根据权利要求10所述的纯平多点触摸检测系统，其特征在于，所述纯平多点触摸检测系统还包括用于通过物理的方式获得最佳光传导和侦测信号的遮光模块和调光模块。

12.根据权利要求11所述的纯平多点触摸检测系统，其特征在于，所述遮光模块采用的是用于滤除所不需要的光信号的滤光片。