[发明专利]一种天馈系统的性能评估方法无效

专利信息
申请号: 201210465913.1 申请日: 2012-11-16
公开(公告)号: CN103152758A 公开(公告)日: 2013-06-12
发明(设计)人: 马向龙;曲秦健;缪炎;王广善;常青 申请(专利权)人: 北京拓明科技有限公司
主分类号: H04W24/04 分类号: H04W24/04;H04W24/08;H04B17/00
代理公司: 北京天悦专利代理事务所(普通合伙) 11311 代理人: 田明;任晓航
地址: 100011 北京市西城*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 系统 性能 评估 方法
【权利要求书】:

1.一种天馈系统的性能评估方法,包括以下步骤:通过对MRR测量报告分析、STS统计分析、DT测试数据分析、硬件告警分析及现场勘测等信息,对天馈系统进行评估。 

2.一种天馈系统的性能评估方法,包括以下步骤: 

1)通过MR测量收集整理基础数据; 

2)根据收集整理的基础数据,定位天馈系统存在故障的小区。 

3.如权利要求2所述的天馈系统的性能评估方法,其特征在于:所述步骤2)还包括: 

2-1、针对不同小区覆盖场景,通过MR测量找出存在越区覆盖的小区:通过MR测量找到TA值,当TA值大于第一预设阈值时,则判断为越区覆盖小区; 

2-2、针对所有场景找出覆盖过小的小区:通过MR测量平均TA值小于第二预设阈值和/或RXLEV大于第三阈值确定覆盖过小的小区。 

4.如权利要求2所述的天馈系统的性能评估方法,其特征在于:所述步骤2)还包括: 

2-3、通过MR测量找出上下行覆盖不平衡的小区,所述上下行覆盖不平衡的判定标准优选为:对于城区、县城密集的小区,下行接收电平-上行接收电平>10Db;对于非城区、县城密集的小区,下行接收电平-上行接收电平>15Db;对于所有小区,上行接收电平-下行接收电平>5Db。 

5.如权利要求2所述的天馈系统的性能评估方法,其特征在于:所述步骤2)还包括: 

2-4、通过MR测量定位天线性能下降或信号被阻挡的小区:找出TA小,且RXLEV弱的小区。 

6.如权利要求5所述的天馈系统的性能评估方法,其特征在于:满足下列条件之一的小区被认定为TA小,且RXLEV弱的小区: 

(1)平均TA小于2,且下行信号强度<-82DB,且上行信号强度<-90DB; 

(2)平均TA小于4,且下行信号强度<-84DB,且上行信号强度<-92DB; 

(3)平均TA小于6,且下行信号强度<-88DB,且上行信号强度<-95DB。 

7.如权利要求2所述的天馈系统的性能评估方法,其特征在于:所述步骤2)还包括: 

2-5、通过MR测量数据,对覆盖密集区的小区进行分析,找出天馈系统存在故障的小区:找出RXLEV分布中下行弱信号低于-90dBm的比例超过10%的小区,所述弱信号评判标准:上行信号强度平均值低于-98db,下行信号强度平均值低于-88db。 

8.如权利要求2所述的天馈系统的性能评估方法,其特征在于:所述步骤2)还包括: 

2-6、通过对一个连续时间段中的各忙时进行统计,找出天馈系统存在故障的小区:找出MR测量RXLEV波动特别大的小区,所述波动大小评判标准为:小区的MR测量中上下行信号强度波动超过15DB。 

9.如权利要求2所述的天馈系统的性能评估方法,其特征在于:所述步骤2)还包括: 

2-7、对所有小区MR分析,定位弱信号比例多的小区,所述弱信号判定标准:上行信号强度平均值低于-100DB,下行信号强度平均值低于-90DB。 

10.如权利要求2-9中任意一项所述的天馈系统的性能评估方法,其特征在于:在步骤2)之后,还包括通过测试天线的发射口功率和天线驻波比来定位是天馈系统的问题还是主设备的问题的步骤。 

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