[发明专利]非线性矢量网络分析仪双端口校准方法有效
申请号: | 201210468209.1 | 申请日: | 2012-11-13 |
公开(公告)号: | CN102981135A | 公开(公告)日: | 2013-03-20 |
发明(设计)人: | 张亦弛;林茂六;苟元潇 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00 |
代理公司: | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人: | 牟永林 |
地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 非线性 矢量 网络分析 端口 校准 方法 | ||
技术领域
本发明涉及非线性矢量网络分析仪双端口校准方法。
背景技术
目前的非线性矢量网络分析仪,简称NVNA,是新一代微波毫米波测量技术及射频功率器件非线性表征平台,然而,NVNA的校准原理和方案一直以来都没有实现突破,仍沿用着Maury公司2003年推出的大信号网络分析仪,简称LSNA的相对和绝对校准技术与流程,没有针对NVNA自身的特点和与LSNA测量原理的差别得到深入研究和发展。现有的NVNA双端口校准技术校准方案单一、校准结果难以自检。
发明内容
本发明是为了解决现有的NVNA双端口校准技术校准方案单一、校准结果难以自检的问题,而提出非线性矢量网络分析仪双端口校准方法。
非线性矢量网络分析仪双端口校准方法,该方法包括以下步骤:
步骤一:采用非线性矢量网络分析仪的两个端口分别进行开路、短路和负载校准,采用开路标准件进行开路校准,根据所述开路标准件的标称值和实际测量值获得方程组:
采用短路标准件进行短路校准;根据所述短路标准件的标称值和实际测量值获得方程组:
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