[发明专利]光谱共焦传感器校准系统及方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种光谱共焦量测方法，尤其涉及一种光谱共焦量测中的传感器校准系统及方法。

背景技术

当前，影像量测（VMS）机台因其量测精度有限，无法准确达到三维效果。尤其是Z轴量测精度更是一大难题，且无法完成如镜面、透明材料以及流体等特殊形体的量测。因此，如何提高VMS机台的量测范围与Z轴量测精度成为当务之急。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种光谱共焦传感器校准系统，在当前影像量测机台的基础上搭配一个光谱共焦系统，通过多色光的光谱进行量测。由于特殊的量测方式，使得影像量测机台具有精度高、量测速度快等特点，并可对镜面、透明材料以及流体等特殊形体进行量测。

所述光谱共焦传感器校准系统运行于电子装置中。该系统包括：设置模块，用于设置与影像量测机台连接的光谱共焦传感器的类型；初步校准模块，用于在手动调整该影像量测机台的光学镜头后，将该光学镜头的缩放倍率设置成最大倍率，其中，该光学镜头为一倍物镜；计算步骤模块，用于计算该光学镜头的影像中心和光谱共焦传感器的影像中心间的X、Y、Z轴偏差，记录该X、Y、Z轴偏差为第一偏差；XY轴校准模块，利用标准量测球校准上述第一偏差中的X、Y轴偏差至少两次；XY轴补偿模块，用于比较该至少两次校准后的X、Y轴偏差，当比较结果在第一允许范围内时，存储最后一次校准得到的X、Y轴偏差；Z轴校准模块，利用标准量测块规校准上述第一偏差中的Z轴偏差至少两次；及Z轴补偿模块，用于比较该至少两次校准后的Z轴偏差，当比较结果在第二允许范围内时，存储最后一次校准得到的Z轴偏差。

还有必要提供一种光谱共焦传感器校准方法，在当前影像量测机台的基础上搭配一个光谱共焦系统，实现快速量测的目的，且量测精度高。

所述光谱共焦传感器校准方法应用于电子装置中。该方法包括：设置步骤，设置与影像量测机台连接的光谱共焦传感器的类型；初步校准步骤，在手动调整该影像量测机台的光学镜头后，将该光学镜头的缩放倍率设置成最大倍率，其中，该光学镜头为一倍物镜；计算步骤，计算该光学镜头的影像中心和光谱共焦传感器的影像中心间的X、Y、Z轴偏差，记录该X、Y、Z轴偏差为第一偏差；XY轴校准步骤，利用标准量测球校准上述第一偏差中的X、Y轴偏差至少两次；XY轴补偿步骤，比较该至少两次校准后的X、Y轴偏差，当比较结果在第一允许范围内时，存储最后一次校准得到的X、Y轴偏差；Z轴校准步骤，利用标准量测块规校准上述第一偏差中的Z轴偏差至少两次；及Z轴补偿步骤，比较该至少两次校准后的Z轴偏差，当比较结果在第二允许范围内时，存储最后一次校准得到的Z轴偏差。

相较于现有技术，本发明在当前影像量测机台的基础上搭配一个光谱共焦系统进行量测，大大提升了影像量测机台的量测范围与Z轴量测精度，并可对作为辅助设备的光谱共焦传感器预先进行校准，根据用户的指令将光谱共焦传感器移动到指定位置，达到量测目的。

附图说明

图1是本发明较佳实施例中的光谱共焦传感器校准系统的运行环境示意图。

图2是本发明较佳实施例中的光谱共焦传感器校准系统的功能模块图。

图3是本发明较佳实施例中的光谱共焦传感器校准方法的作业流程图。

图4是图3步骤S7中对X、Y轴偏差进行校准的具体作业流程图。

主要元件符号说明