[发明专利]一种高精度作物生长信息监测仪及其检测方法有效
申请号: | 201210472211.6 | 申请日: | 2012-11-20 |
公开(公告)号: | CN102967562A | 公开(公告)日: | 2013-03-13 |
发明(设计)人: | 倪军;朱艳;曹卫星;姚霞;田永超 | 申请(专利权)人: | 南京农业大学 |
主分类号: | G01N21/27 | 分类号: | G01N21/27 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 朱小兵 |
地址: | 210095 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高精度 作物 生长 信息 监测 及其 检测 方法 | ||
1.一种高精度作物生长信息监测仪,其特征在于:包括光谱传感器(1)、标准反射率白板(13)、信号采集器(5)、屏蔽导线(4),以及由水平支架(2)、活动支撑杆(3)组成的支架;其中,所述光谱传感器(1)固定于水平支架(2)的一端,水平支架(2)的另一端与活动支撑杆活动连接,所述信号采集器(5)紧固于活动支撑杆(3)上位于人眼易于观察的高度;所述光谱传感器(1)的输出端通过屏蔽导线(4)串接信号采集器(5);所述标准反射率白板(13)设置于光谱传感器(1)下方且与光谱传感器(1)垂直。
2.根据权利要求1所述的一种高精度作物生长信息监测仪,其特征在于:还包括一个水平仪(6),所述水平仪(6)紧固于活动支撑杆上位于信号采集器(5)下方的末端处。
3.根据权利要求1所述的一种高精度作物生长信息监测仪,其特征在于:所述光谱传感器(1)包括光电探测器阵列(7)以及金属外壳(11);其中:所述光电探测器阵列(7)由一对光电探测器排列组成。
4.根据权利要求3所述的一种高精度作物生长信息监测仪,其特征在于:所述光电探测器由光电二极管(8)、位于光电二极管外层的光谱滤光片(9),以及位于光谱滤光片(9)外层的滤波圈(10)组成。
5.根据权利要求3所述的一种高精度作物生长信息监测仪,其特征在于:在所述金属外壳(11)上还套有保护玻璃(12)。
6.根据权利要求4所述的一种高精度作物生长信息监测仪,其特征在于:所述光谱滤光片(9)的中心波段为720nm,810nm;所述滤波圈(10)的视场角为25°-30°,孔径为12.8mm。
7.根据权利要求1所述的一种高精度作物生长信息监测仪,其特征在于:所述信号采集器(5)包括前置放大电路、滤波电路、增益可调电路、模数转换电路、单片微型处理器、控制键盘、液晶屏、电源电路、指示电路;其中:所述前置放大电路依次串接滤波电路、增益可调电路、模数转换电路、单片微型处理器;所述控制键盘连接单片微型处理器;所述单片微型处理器与液晶屏连接;所述电源电路与指示电路相连且向整个装置供电。
8.根据权利要求1所述的一种高精度作物生长信息监测仪,其特征在于:所述标准反射率白板(13)为边长25cm的矩形板,在720nm处的光谱反射率为99.3%,在810nm处的光谱反射率为99.4%。
9.一种高精度作物生长信息监测仪的检测方法,其特征在于采用如下步骤:
步骤1),选择晴朗、少云、无风天气,将光谱传感器连接于水平支架一端的下表面;将水平支架的另一端通过紧固螺丝固定在活动支撑杆的顶部;通过观察水平仪,调节活动支撑杆,设置光谱传感器与水平位置成90°,
步骤2),将标准反射率白板置于光谱传感器下方0.2m-0.4m高度左右,且与光谱传感器垂直,保证光谱传感器检测视场在标准反射率白板内;
步骤3),采用光谱传感器采集标准反射率白板在720nm、810nm波段处的反射光信息,并传输至信号采集器中,依次经过前置放大器、滤波电路、增益可调电路处理,转换成具有一定幅值的电压信号U白板_720、U白板_810;然后通过模数转换电路输入单片微处理器,单片微型处理器按照下式对信号进行处理,
得到太阳辐射光在720nm、810nm波段处辐射信息,并实时显示在液晶屏上;单片微处理器屏蔽采样,锁定太阳辐射光信息,并将值存储至内存中;
步骤4),将步骤2)中的光谱传感器移至作物冠层上方,观察水平仪,调节活动支撑杆,设置光谱传感器与水平位置成90°,且距离作物冠层高度0.7m左右;采用光谱传感器采集作物冠层在720nm、810nm波段处的反射光信息,并传输至信号采集器中,依次经过前置放大器、滤波电路、增益可调电路中处理,转换成具有一定幅值的电压信号U冠层_720,U冠层_810,然后通过模数转换电路输入单片微处理器,单片微型处理器按照下式对信号进行处理,
得到作物冠层在720nm、810nm处光谱反射率信息ρ冠层-720、ρ冠层-810;单片微处理器屏蔽采样,锁定被测冠层光谱反射率。
10.根据权利要求9所述的一种高精度作物生长信息监测仪的检测方法,其特征在于:还包括步骤5)“诊断”模式:单片微处理器耦合作物冠层光谱反射率信息与现有作物生长模型,反演作物氮含量、氮积累量、叶面积指数、叶干重信息,并通过液晶屏显示。
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