[发明专利]输出通道电压状态检测电路有效
申请号: | 201210475967.6 | 申请日: | 2012-11-21 |
公开(公告)号: | CN102998516A | 公开(公告)日: | 2013-03-27 |
发明(设计)人: | 宋宇;俞泓;谌锋;杨朝霞 | 申请(专利权)人: | 上海富欣智能交通控制有限公司 |
主分类号: | G01R19/00 | 分类号: | G01R19/00;G01R15/22 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 孙大为 |
地址: | 201203 上海市浦东新*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 输出 通道 电压 状态 检测 电路 | ||
技术领域
本发明属于电子电路设计技术领域,具体是指一种应用于工业控制系统和安全信号系统中的通道输出状态检测电路,尤其是较低电压信号的检测。
背景技术
工业控制系统和安全信号系统(应用于航空电子、铁路信号、核电等行业)中,控制器通过开关输出通道来实现对外部受控信号的开启和关闭。为确保通道输出的正确性,一般在输出端口并联电压检测电路,采集输出状态。
如图1所示,是常见的一种输出通道电路设计,该电路由控制器1、固态继电器2、光耦3、齐纳管4及电阻5,电阻6等组成。当通道输出电平高于齐纳管4嵌位电压、且可以产生大于光耦3的LED导通阈值电流时,光耦3的输出端导通,否则关断。图1中,1控制器,2固态继电器,3光耦,4齐纳管,5限流电阻,6上拉电阻。
常规检测电路中,假设光耦在驱动电流小于Isd时关断,大于Iop后导通。在齐纳管击穿后,光耦驱动电流随通道电压线性变化,光耦从确定关断到确定导通的经历的电压范围较大,减小了端口电压可检测范围。此外,在低输出电压的场合,需选取低钳位电压的齐纳管,但其漏电流在uA~mA级,随温度显著增加,可能在通道未达检测阈值时误驱动光耦导通。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种通道输出电压状态检测电路,它可以适合应用于多输出通道的系统中,实现对齐纳管漏电流的衰减,可避免因其引起的光耦误导通。
为了解决以上技术问题,本发明提供了一种通道输出电压状态检测电路,包括:固态继电器、敏感光耦、非线性控制晶体管、检测电路阈值调整限流电阻、检测电路阈值调整齐纳管、阈值调整电阻和上拉电阻;所述非线性控制晶体管的发射极通过阈值调整齐纳管及限流电阻后接输出端口,基极通过敏感光耦连接后到地,集电极通过阈值调整电阻后连接到地。
本发明的有益效果在于:电路设计简单,参数调谐方便,只采用少数种类的元件,低成本。电路所占体积(面积)小,十分适合应用于多输出通道的系统中。实现了对齐纳管漏电流的衰减,可避免因其引起的光耦误导通。对检测电路非线性化,通过改善其开关特性增大了其电压可检测范围。
所述敏感光耦,非线性控制晶体管,检测电路阈值调整限流电阻、检测电路阈值调整齐纳管、阈值调整电阻可以采用不同阈值的齐纳管、或者采用不同阻值的检测电路阈值调整限流电阻、阈值调整电阻的组合。
采用较低导通电流阈值的敏感光耦作为隔离器件。
附图说明
下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细说明。
图1是一种常见的控制系统输出通道电路设计结构示意图;
图2是本发明的输出通道电压状态检测电路的原理图。
图3是本发明的一个实施例电路的原理图。
具体实施方式
为实现检测电路非线性化,改善了其电压可检测范围,同时衰减齐纳管漏电流对检测的影响,需要设计一种由分离元器件组成的输出电压状态检测电路。
本发明提供一种输出通道电压状态检测电路,该电路能够应用于包括但并不局限于安全信号系统、工业控制系统等领域。本发明输出通道状态检测电路的技术方案是:如图2所示,由光耦2、齐纳管5、P沟道晶体管3、电阻4、电阻6和电阻7组成。其中,1固态继电器,2光耦,3P型晶体管,4电阻,5齐纳管,6电阻,7电阻。
根据设计参数的需要,可选取不同嵌位电压的齐纳管5、不同阻值的电阻4和电阻6,不同增益的P沟道晶体管3,采用一个或多个稳压管串联等。
如图2所示的输出通道电压检测电路,所需检测的电压阈值为U0;光耦2的导通电压阈值为U2,导通电流为I2;P沟道晶体管3在放大区的电流放大倍数为h3,基极电流为Ib,集电极电流为Ic,发射极电流为Ie,;电阻4的阻值为R4;齐纳管5的嵌位电压为U5;电阻6的阻值为R6;各模块之间的参数满足以下关系:
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