[发明专利]UE 归属AP 的判断方法及装置在审
申请号: | 201210478376.4 | 申请日: | 2012-11-22 |
公开(公告)号: | CN103841596A | 公开(公告)日: | 2014-06-04 |
发明(设计)人: | 黄琛;张冬英;李楠;阮玉峰;张芳;袁熹 | 申请(专利权)人: | 中兴通讯股份有限公司 |
主分类号: | H04W24/08 | 分类号: | H04W24/08;H04W24/10 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 许静;黄灿 |
地址: | 518057 广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | ue 归属 ap 判断 方法 装置 | ||
1.一种UE归属AP的判断方法,其特征在于,包括:
对从UE到同一个逻辑小区中的多个AP的上行信道质量分别进行测量,根据得到的上行信道质量信息从所述多个AP中选择出AP初选子集;
对所述AP初选子集中的AP到所述UE的下行信道质量进行测量,根据得到的下行信道质量信息确定UE的归属AP。
2.根据权利要求1所述的UE归属AP的判断方法,其特征在于,所述对从UE到同一个逻辑小区中的多个AP的上行信道质量分别进行测量之前还包括:
对同一个逻辑小区中的多个AP的CSI-RS端口和时频资源配置进行分配。
3.根据权利要求2所述的UE归属AP的判断方法,其特征在于,所述对同一个逻辑小区中的多个AP的CSI-RS端口和时频资源配置进行分配包括:
为相邻或相近的AP分配不同的CSI-RS端口或时频资源配置。
4.根据权利要求1所述的UE归属AP的判断方法,其特征在于,对从UE到同一个逻辑小区中的多个AP的上行信道质量分别进行测量,根据得到的上行信道质量信息从所述多个AP中选择出AP初选子集包括:
对UE到每一个AP的上行信道质量进行多次测量,对得到的测量结果进行平滑或滤波处理,得到所述UE到每一个AP的上行信道质量信息;
根据得到的上行信道质量信息,选择出上行信道质量最优的两个以上AP组成所述UE的AP初选子集。
5.根据权利要求1所述的UE归属AP的判断方法,其特征在于,所述对所述AP初选子集中的AP到所述UE的下行信道质量进行测量,根据得到的下行信道质量信息确定UE的归属AP包括:
根据所述AP初选子集中的AP的CSI-RS端口和时频资源配置,对每一个AP到所述UE的下行信道质量进行多次测量,对得到的测量结果进行平滑或滤波处理,得到每一个AP到所述UE的下行信道质量信息;
根据得到的下行信道质量信息,选择出下行信道质量最优的AP作为所述UE的归属AP。
6.一种UE归属AP的判断装置,其特征在于,包括:
上行信道测量模块,用于对从UE到同一个逻辑小区中的多个AP的上行信道质量分别进行测量;
选择模块,用于根据得到的上行信道质量信息从所述多个AP中选择出AP初选子集;
下行信道测量模块,用于对所述AP初选子集中的AP到所述UE的下行信道质量进行测量;
判断模块,用于根据得到的下行信道质量信息确定UE的归属AP。
7.根据权利要求6所述的UE归属AP的判断装置,其特征在于,所述装置还包括:
分配模块,用于对同一个逻辑小区中的多个AP的CSI-RS端口和时频资源配置进行分配。
8.根据权利要求7所述的UE归属AP的判断装置,其特征在于,
所述分配模块具体用于为相邻或相近的AP分配不同的CSI-RS端口或时频资源配置。
9.根据权利要求6所述的UE归属AP的判断装置,其特征在于,
所述上行信道测量模块具体用于对UE到每一个AP的上行信道质量进行多次测量,对得到的测量结果进行平滑或滤波处理,得到所述UE到每一个AP的上行信道质量信息;
所述选择模块具体用于根据得到的上行信道质量信息,选择出上行信道质量最优的两个以上AP组成所述UE的AP初选子集。
10.根据权利要求6所述的UE归属AP的判断装置,其特征在于,
所述下行信道测量模块具体用于根据所述AP初选子集中的AP的CSI-RS端口和时频资源配置,对每一个AP到所述UE的下行信道质量进行多次测量,对得到的测量结果进行平滑或滤波处理,得到每一个AP到所述UE的下行信道质量信息;
所述判断模块具体用于根据得到的下行信道质量信息,选择出下行信道质量最优的AP作为所述UE的归属AP。
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