[发明专利]X光平板侦测装置

权利要求书

1.一种X光平板侦测装置，包括：

一薄膜晶体管基板；

一光电感测层，位于该薄膜晶体管基板上且与其电性连接，其中该光电感测层包含多个光电感测元件以及多个吸光元件，且所述吸光元件形成于所述光电感测元件彼此间的间隙；

一闪烁层，位于该光电感测层上；以及

一反射层，设置于该闪烁层上。

2.如权利要求1所述的X光平板侦测装置，其中该X光平板侦测装置还包含一碳纤维层于该反射层上。

3.如权利要求1所述的X光平板侦测装置，其中所述吸光元件具有一吸光材质。

4.一种X光平板侦测装置，包括：

一薄膜晶体管基板；

一光电感测层，位于该薄膜晶体管基板上且与其电性连接，其中该光电感测层包含多个光电感测元件；

一闪烁层，位于该光电感测层上；以及

一反射层，设置于该闪烁层上，其中该反射层包含多个反射区块；以及

一碳纤维层，设置于该反射层上。

5.如权利要求4所述的X光平板侦测装置，其中所述反射区块的位置投影对应于所述光电感测元件的位置。

6.一种X光平板侦测装置，包括：

一薄膜晶体管基板；

一光电感测层，位于该薄膜晶体管基板上且与其电性连接，且该光电感测层包含多个光电感测元件；

一微透镜阵列层，位于该光电感测层上，其中该微透镜阵列层包含多个微透镜；

一闪烁层，位于该微透镜阵列层上；以及

一反射层，设置于该闪烁层上。

7.如权利要求6所述的X光平板侦测装置，其中每一所述微透镜对应设置于每一所述光电感测元件上。

8.如权利要求6所述的X光平板侦测装置，其中每一所述微透镜包含有一曲面以及一底面，其中所述微透镜的该底面设置于靠近所述光电感测元件的一侧上，且所述微透镜的该曲面覆盖每一所述光电感测元件。

9.如权利要求8所述的X光平板侦测装置，其中每一所述微透镜的该曲面与该底面的交界点的切线与每一所述微透镜的该底面具有一夹角，且该夹角是介于15°-65°。

10.如权利要求6所述的X光平板侦测装置，其中还包含一第一透光层，且该第一透光层覆盖于该微透镜阵列层上。

11.如权利要求10所述的X光平板侦测装置，其中该微透镜阵列层的折射率大于该第一透光层的折射率。

12.如权利要求10所述的X光平板侦测装置，其中于该微透镜阵列层与该第一透光层间还包含一第二透光层。

13.如权利要求12所述的X光平板侦测装置，其中该第二透光层的折射率大于第一透光层的折射率。