[发明专利]一种镇流器测试方法及装置无效
申请号: | 201210482839.4 | 申请日: | 2012-11-23 |
公开(公告)号: | CN103837757A | 公开(公告)日: | 2014-06-04 |
发明(设计)人: | 周明杰;方璋 | 申请(专利权)人: | 海洋王(东莞)照明科技有限公司;海洋王照明科技股份有限公司;深圳市海洋王照明工程有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R31/12 |
代理公司: | 广州三环专利代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝传鑫;熊永强 |
地址: | 523000 广东省东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 镇流器 测试 方法 装置 | ||
技术领域
本发明涉及照明领域,尤其涉及一种镇流器测试方法及装置。
背景技术
照明行业中,电感类镇流器是气体放电灯工作中不可或缺的配套部件,起限制及稳定电流的作用。由于灯具工作环境恶劣,镇流器处于密闭电器箱内不利于散热,通常会导致镇流器存在寿命短的问题。在灯具类新产品设计开发初期,需对多个厂家提供的镇流器样品进行对比试验,以判断镇流器的优劣。目前镇流器的优劣主要取决于铜损、制造工艺和绝缘漆耐温等级,验证其绝缘漆耐温等级的方法是将电感类镇流器置于高温箱内,通过调节高温箱的温度使镇流器线圈温度达到一定温度值,在该温度值下镇流器带载连续工作30天,最后进行点亮光源测试、耐压测试判断镇流器的优劣。现有的检测方法耗时较长、检测效率低下、检测成本高、导致新产品的上市周期严重延长。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于,提供一种镇流器测试方法及装置,可有效缩短检测时间,提高效率,降低成本。
本发明提供了一种镇流器的测试方法,所述方法包括以下步骤:
将光源、电容及触发器与待测镇流器连接,所述电容连接于交流市电的火线与零线之间,所述镇流器连接于所述触发器的第一引脚与所述火线之间,所述光源连接于所述触发器的第二引脚与所述零线之间,所述触发器的第三引脚连接于所述零线,所述触发器用于瞬间提供高压点亮所述光源;
进行点亮光源测试,即在连接完好的所述光源、所述电容及所述触发器组成的电路中,输入交流市电,测试所述光源能否点亮;
将热电偶的温度采集点电连接于所述镇流器线圈表面,数显温度计连接于所述热电偶的插头,所述数显温度计用于显示所述镇流器线圈工作时温度值,将所述镇流器放置在常温无风的环境下,所述交流市电经所述镇流器提供额定电压点亮所述光源;
进行待测镇流器的通电带载常温测试,即单位时间段间隔测量所述镇流器线圈的温度值,直至数显温度计显示线圈温度稳定;
将所述通电带载常温测试后的所述镇流器线圈在常温下进行耐压测试,即将所述镇流器的输入端与其外表面外壳连接在所述耐压测试仪的输出端上,所述耐压测试仪提供第一设定值的高压给所述镇流器,测试所述镇流器的漏电流,以检测所述镇流器的电流是否超出所述耐压测试仪的最大漏电流值;
将所述镇流器单独置于高温箱内,进行不通电高温老化测试,所述高温箱的温度为第二设定值,测试时间为第三设定值,后将所述高温箱的温度降至室温,取出所述镇流器,检查所述镇流器绝缘漆是否熔化。
其中,所述第一设定值为2U+1000V,所述2U为所述镇流器的额定电压值的两倍,所述耐压测试仪的最大漏电流为10mA。
其中,所述第二设定值的初始值为180℃,而后依次增加第四设定值。
其中,所述第四设定值为20℃。
其中,所述第三设定值6h。
本发明实施例还提供了一种镇流器测试装置,包括电容、触发器及光源,所述电容连接于交流市电的火线与零线之间,所述镇流器连接于所述触发器的第一引脚与所述火线之间,所述光源连接于所述触发器的第二引脚与所述零线之间,所述触发器的第三引脚连接于所述零线,所述触发器用于瞬间提供高压点亮所述光源,所述镇流器测试装置还包括热电偶、数显温度计、耐压测试仪和高温箱,所述热电偶的温度采集点连接于所述镇流器线圈表面,所述热电偶的插头与所述数显温度计连接,用于检测所述镇流器线圈工作时温度值;所述数显温度计用于显示所述镇流器线圈工作时温度值;所述耐压测试仪的输出端分别与所述镇流器的输入端和外壳连接,用于检测所述镇流器的电流是否超出所述耐压测试仪的最大漏电流值;所述高温箱用于单独加热所述镇流器,以对所述镇流器的高温老化测试。
本发明采用点亮光源测试,若光源能点亮,则镇流器无异常,进而进行通电带载常温测试,以判断多个所述镇流器铜损、制造工艺的优劣。
采用点亮光源测试、耐压测试,在测试均无异常的情况下,进而进行不通电高温老化测试,如此循环反复多次,直至所述镇流器异常,以判断多个所述镇流器的绝缘漆耐温等级。根据以上测试结果,对比多个产品,较短时间内迅速找出所述镇流器设计及制造的缺陷,降低检测成本,增加产品可靠性并缩短其上市周期,建立产品可靠性的基础数据,作为日后研发的重要依据。
附图说明
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