[发明专利]基于主元分析法的校准分光光度计仪器间误差的方法

权利要求书

1.一种基于主元分析法的校准分光光度计仪器间误差的方法，其特征在于包括以下步骤：

1)选取n个基本覆盖各个色区的校准样本，可采用国际标准色卡或色样。

2)选取两台分光光度计，其中一台作为标准分光光度计，测量校准样本得到标准光谱，记为矩阵R_S；将另外一台作为测试分光光度计，测量校准样本得到测试光谱，记为矩阵R_T；

3)将所有测得标准光谱进行主元分析，取前m个主元组成主元矩阵V；

4)根据主元矩阵V，将标准光谱矩阵R_S和测试光谱矩阵R_T分别转换为标准系数矩阵C_S和测试系数矩阵C_T；

C_S＝R_S×V

C_T＝R_T×V

5)假定标准系数矩阵C_S和测试系数矩阵C_T满足等式C_S＝C_T×K，采用最小二乘法计算校准矩阵K；

6)对任一经测试分光光度计测量得到的光谱数据R，首先根据主元矩阵V转化为系数矩阵C，再利用校准矩阵K计算得校准后的系数矩阵C’，最后计算得到校准后的光谱数据R’；

C＝R×V

C’＝C×K

R’＝C’×V^T

其中V^T表示主元矩阵V的转置。

2.根据权利要求1所述的基于主元分析法的校准分光光度计仪器间误差的方法，其特征在于所述步骤1)中选取n个基本覆盖各个色区的校准样本，可根据需要选用国际标准色卡和色样，也可选用自制的色卡或色样，n一般为20-50个。

3.根据权利要求1所述的基于主元分析法的校准分光光度计仪器间误差的方法，其特征在于所述步骤3)中选取前m个主元组成主元矩阵V，可根据精度和速度的要求灵活选用，m一般设为10。

4.根据权利要求1所述的基于主元分析法的校准分光光度计仪器间误差的方法，其特征在于所述步骤5)中利用最小二乘法计算满足等式C_S＝C_T×K的校准矩阵K。