[发明专利]用于测试物位计系统的设备和方法

权利要求书

1.一种用于物位计系统的测试设备，所述物位计系统包括测量单元和连接到所述测量单元的信号传播装置，所述测试设备包括：

波导，其能够在连接点处连接到所述物位计系统，以允许通过所述波导来传播由所述测量单元发射的电磁发射信号；

第一信号反射装置，其沿着所述波导布置在沿所述波导与所述连接点相距第一距离处，所述第一信号反射装置被配置成允许来自所述测量单元的所述电磁发射信号的至少一部分通过所述第一信号反射装置并进一步沿所述波导前进；以及

第二信号反射装置，其沿着所述波导布置在沿所述波导与所述连接点相距第二距离处，所述第二距离大于所述第一距离，所述第二信号反射装置用于将来自所述第一信号反射装置的、沿着所述波导行进的电磁信号反射回朝向所述第一信号反射装置，

其中，所述第一信号反射装置被配置成：将来自所述第二信号反射装置的、沿着所述波导行进的电磁信号反射回朝向所述第二信号反射装置；以及至少在从所述测量单元发射所述电磁发射信号之后的预定时间处发生的时间段内允许来自所述第二信号反射装置的、沿着所述波导朝向所述第一信号反射装置行进的电磁信号通过所述第一信号反射装置，以允许该电磁信号被所述物位计系统的所述测量单元接收。

2.根据权利要求1所述的测试设备，其中所述第一信号反射装置包括阻抗转变部。

3.根据权利要求2所述的测试设备，其中所述阻抗转变部被配置成反射入射到所述阻抗转变部上的电磁信号的功率的第一部分，并允许所述电磁信号的所述功率的第二部分通过。

4.根据权利要求3所述的测试设备，其中所述第一部分为入射到所述阻抗转变部上的电磁信号的所述功率的至少20％。

5.根据权利要求1或2所述的测试设备，其中所述第一信号反射装置还包括能够在信号传导状态和信号反射状态之间控制的切换电路。

6.根据权利要求5所述的测试设备，其中所述测试设备还包括定时控制电路，所述定时控制电路被连接到所述切换电路并且被连接到所述连接点与所述切换电路之间的所述波导，

所述定时控制电路被配置成感测由所述测量单元发射的所述电磁发射信号，并基于所述电磁发射信号的定时来控制所述切换电路的切换状态。

7.根据权利要求5所述的测试设备，其中所述切换电路被配置成具有长于一纳秒的、从所述信号传导状态到所述信号反射状态的切换时间。

8.根据权利要求5所述的测试设备，其中所述切换电路被配置成具有短于如下传播时间的、从所述信号传导状态到所述信号反射状态的切换时间：所述传播时间为电磁信号沿着所述波导从所述切换电路到所述第二信号反射装置并返回所述切换电路的时间。

9.根据权利要求1或2所述的测试设备，其中所述第二信号反射装置被布置在所述波导的端部。

10.根据权利要求1或2所述的测试设备，其中所述波导为同轴缆线。

11.一种用于确定容器中所容纳的物品的填充物位的物位计系统，包括：

测量单元；

连接到所述测量单元的信号传播装置，所述信号传播装置用于将来自所述测量单元的电磁发射信号朝向所述物品的表面传播，并且将由于所述电磁发射信号在所述表面处的反射所产生的电磁反射信号返回至所述测量单元；以及

根据权利要求1所述的测试设备；

其中所述物位计系统能够控制在如下两种状态之间：

填充物位确定状态，其中所述测量单元基于所述电磁反射信号来确定所述填充物位；以及

测试状态，其中所述测试设备的所述波导连接到所述测量单元，使得通过所述波导来传播由所述测量单元发射的所述电磁发射信号。

12.根据权利要求11所述的物位计系统，其中所述物位计系统在所述测试状态下被配置成：基于仅在与针对所述物位计系统应当被测试的特定距离相对应的时间段内从所述测试设备接收到的电磁信号来确定测试结果。