[发明专利]金属介质膜宽带脉冲压缩光栅无效
申请号: | 201210484149.2 | 申请日: | 2012-11-23 |
公开(公告)号: | CN102928905A | 公开(公告)日: | 2013-02-13 |
发明(设计)人: | 关贺元;晋云霞;吴建波;杜颖;侯永强;刘世杰;易葵;邵建达 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | G02B5/18 | 分类号: | G02B5/18 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人: | 张泽纯 |
地址: | 201800 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 金属 介质 宽带 脉冲 压缩 光栅 | ||
1.一种用于800纳米中心波长的金属介质膜宽带脉冲压缩光栅,特点在于其构成是在石英基底上自内向外依次的金属层(8)、介质膜组成的匹配层(7)和光栅刻蚀层(4)一体构成,所述的匹配层(7)自内向外由第一低折射率膜层(6)和第一高折射率层(5)构成、所述的光栅刻蚀层(4)自内向外由第二低折射率膜层(3)、第二高折射率层(2)和第三低折射率膜层(1)构成,所述的光栅刻蚀层(4)的光栅周期为490~640纳米,占空比为0.2~0.4。
2.根据权利要求1所述的金属介质膜宽带脉冲压缩光栅,其特征在于所述的金属层(6)的材料为金、银或是铝,其厚度大于50纳米。
3.根据权利要求1所述的金属介质膜宽带脉冲压缩光栅,其特征在于所述的高折射率层的材料为TiO2,HfO2或Ta2O5;所述的低折射率膜层的材料为SiO2。
4.根据权利要求1所述的金属介质膜宽带脉冲压缩光栅,其特征在于所述的第一高折射率层(5)的厚度为100~200纳米;第二高折射率层(2)的厚度为100~250纳米;所述的第一低折射率膜层(6)的厚度为50~200纳米;第二低折射率膜层(3)的厚度20~200nm;第三低折射率膜层(1)的厚度不超过170纳米。
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