[发明专利]目标雷达散射截面测量与定标处理的方法有效
申请号: | 201210484279.6 | 申请日: | 2012-11-23 |
公开(公告)号: | CN102998665A | 公开(公告)日: | 2013-03-27 |
发明(设计)人: | 许小剑 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G01S7/41 | 分类号: | G01S7/41 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 刘芳 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 目标 雷达 散射 截面 测量 定标 处理 方法 | ||
技术领域
本发明涉及雷达信号处理技术,尤其涉及一种目标雷达散射截面(Radar Cross Section,简称:RCS)测量与定标处理的方法。
背景技术
RCS测量技术是研究目标雷达散射特性的重要手段之一。RCS可根据定标体的精确RCS值、不同距离条件下的定标常数和雷达目标与定标体的回波信号来确定。目前,在测量雷达目标与定标体的回波信号时,通常需要采用金属支架支撑雷达目标与定标体。
现有技术中,RCS测量的步骤为:安放测定标体支架,测量此时的测试场背景回波BC(f);安装定标体,测量定标体回波SC(f);安放目标支架,测量此时的测试场背景回波BT(f);安装目标,测量目标回波ST(f);并根据公式(8)计算目标RCSσT(f)
其中,ST(f)和SC(f)分别表示测目标和测定标体时雷达接收到的回波信号,K为不同距离条件下的定标常数,BT(f)和BC(f)分别表示测目标和测定标体时的背景回波,σT为目标RCS,σC为定标体的RCS,f为雷达频率。
现有技术有以下缺点:(1)在全尺寸目标静态测试外场中,如果不考虑测试场随时间和气象等条件的变化特性将引入测量误差。特别地,对于地面平面场,由于它利用了测试场地面的多径散射特性,环境与气象条件的变化将引起地面复反射系数、电尺寸长度等的变化,进而影响测试场场强分布特性和回波幅度相位的变化,其结果不但影响定标精度,而且影响背景相减效果,导致目标RCS测量值误差增加。(2)任何再精密的测量雷达系统,总是存在一定的系统漂移的,在室内环境温度等受到严格控制的条件下,系统漂移也许不产生重要影响,但是在室外测试场条件下,这种系统漂移可能变得明显,尽管采用异地连续定标可以基本消除幅度定标误差,但测量系统的幅度和相位漂移同样会引起精确背景相量相减无法实现而产生剩余背景误差,导致目标RCS测量误差增大。
发明内容
本发明提供一种目标雷达散射截面测量与定标处理的方法,用于解决测试场的电性能参数、雷达系统发生幅度与相位漂移且测试场环境因素发生变化,导致的目标RCS测量误差增加的问题。
本发明提供一种目标雷达散射截面测量与定标处理的方法,包括:
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航空航天大学,未经北京航空航天大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210484279.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种腹压助产仪
- 下一篇:一种新型普外科用手术刀