[发明专利]PCB板推块两段式测试结构

权利要求书

1.一种PCB板推块两段式测试结构，其特征在于：包括沿厚度方向上顺序设置的载板（1）、限位板（2）和针板（3），所述载板和所述限位板之间具有供真空吸合的间隙（4），所述载板背向所述限位板的一侧用于放置待测PCB板（5），对应待测PCB板上多次测试时始终需要探针接触的待测试针点，所述针板厚度方向上穿设有长探针（6），对应待测PCB板上多次测试时不需要探针始终接触的待测试针点，所述针板厚度方向上设有短探针（7），对应每一个探针，所述载板和所述限位板上设有相匹配的探针通孔，真空吸合时，所述限位板能够使所述长探针和所述短探针同时穿过所述探针通孔触及所述待测试针点和仅使所述长探针穿过所述探针通孔触及所述待测试针点。

2.根据权利要求1所述的PCB板推块两段式测试结构，其特征在于：真空吸合时，所述限位板能够使所述长探针和所述短探针同时穿过所述探针通孔触及所述待测试针点和仅使所述长探针穿过所述探针通孔触及所述待测试针点的结构是：所述载板朝向所述限位板的一侧固设有若干个限位柱（11），对应每一个限位柱，所述限位板上设有与所述限位柱匹配的限位通孔（21），所述针板上设有与所述限位柱匹配的限位槽（31），另设有若干个驱动机构，所述驱动机构能够择一驱动所述限位板沿所述针板长度和宽度方向上运动，使所述限位柱、限位通孔和限位槽位于同一线上和不在同一线上。

3.根据权利要求1所述的PCB板推块两段式测试结构，其特征在于：设有两个所述驱动机构，所述驱动机构为气缸。