[发明专利]一种光刻胶做厚的方法无效
申请号: | 201210488190.7 | 申请日: | 2012-11-26 |
公开(公告)号: | CN103838087A | 公开(公告)日: | 2014-06-04 |
发明(设计)人: | 李玉华 | 申请(专利权)人: | 无锡华润上华科技有限公司 |
主分类号: | G03F7/16 | 分类号: | G03F7/16;B05D7/24 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 常亮 |
地址: | 214028 江苏省无*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光刻 胶做厚 方法 | ||
1.一种光刻胶做厚的方法,其特征在于,包括以下步骤:
提供待涂布的半导体晶片,向所述静止状态下的半导体晶片表面中央或接近中央的区域喷出RRC,以旋转速度R1旋转所述的半导体晶片;
增加旋转速度到R2,并向所述的半导体晶片表面中央或接近中央的区域喷出光刻胶;
降低旋转速度到R3为200RPM~500RPM,旋转5s~15s进行预匀胶;
增加旋转速度到R4进行匀胶;
降低旋转速度到R5进行边洗;
以旋转速度R6对背面进行清洗;
以旋转速度R7再次进行边洗;
以旋转速度R8甩干清洗溶剂。
2.根据权利要求1所述的光刻胶做厚的方法,其特征在于:所述的旋转速度R1为1500RPM~2500RPM,旋转0.5s~1.5s。
3.根据权利要求1所述的光刻胶做厚的方法,其特征在于:所述的旋转速度R2为3000RPM~4500RPM,旋转0.1s~1.0s。
4.根据权利要求1所述的光刻胶做厚的方法,其特征在于:所述的旋转速度R4为1000RPM~3000RPM,旋转10s~25s。
5.根据权利要求1所述的光刻胶做厚的方法,其特征在于:所述的旋转速度R5为1000RPM~2000RPM,旋转1.5s~3s。
6.根据权利要求1所述的光刻胶做厚的方法,其特征在于:所述的旋转速度R6为1000RPM~2000RPM,旋转3s~7s。
7.根据权利要求1所述的光刻胶做厚的方法,其特征在于:所述的旋转速度R7为1000RPM~2000RPM,旋转1.5s~3s。
8.根据权利要求1所述的光刻胶做厚的方法,其特征在于:所述的旋转速度R8为1000RPM~2000RPM,旋转5s~10s。
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