[发明专利]一种实现低压供电芯片检测高电压的电路

说明书

技术领域

本发明涉及电压检测技术领域，特别涉及一种实现低压供电芯片检测高电压的电路。

背景技术

在电压检测过程中，如果被测电压高于检测芯片的供电电压，则无法直接将被测电压输入到检测芯片，以免烧毁芯片。

发明内容

为了克服上述现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种实现低压供电芯片检测高电压的电路，利用分立器件来比例降低被测电压，且同时被测电压保持驱动能力。

为了实现上述目的，本发明采用的技术方案是：

一种实现低压供电芯片检测高电压的电路，待测信号S1通过电阻R1接三极管Q1的基极，三极管Q1的基极同时通过电阻R2接地，三极管Q1的集电极接地，发射极作为信号输出端，信号输出端通过电阻R3接VCC。

与现有技术相比，本发明能够实现对待测电压的降低，保证检测芯片的安全性。

附图说明

附图为本发明的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明进行更详尽的说明。

如图所示，本发明为一种实现低压供电芯片检测高电压的电路，待测信号S1通过电阻R1接三极管Q1的基极，三极管Q1的基极同时通过电阻R2接地，三极管Q1的集电极接地，发射极作为信号输出端，信号输出端通过电阻R3接VCC。

本发明输入电压VIN经过电阻R1/R2的分压后，作用于三极管Q1的基极，使得三极管Q1的射极电压，即VOUT=S1*R2/(R1+R2)+0.7V，从这个公式上可以看出，当S1超出VCC供电时，VOUT和S1成比例的变化。利用于此就可以使用较低VCC供电的芯片来检测S1等比VCC电压高的信号。

该电路中需要注意的是，S1经过R1/R2的分压后，其Q1的基极电压必须小于VCC，都则Q1不能导通，电路不能发挥作用。

由于有Q1的存在，相对于高阻R1和R2分压后的电压驱动能力强了很多，利于检测信号驱动相关电路动作。

现有方案中由于没有Q1等元件，使得S1信号不能直接被VCC供电的芯片检测，功能无法实现。

本发明的电路完全由三极管、电阻、电容组成，被测试信号S1通过转换，形成VOUT输入到检测芯片，保证检测的准确性和电路的安全性。