[发明专利]LED多应力下可靠性快速评测方法

说明书

技术领域：

本发明属于半导体照明领域，涉及到多应力LED可靠性快速评测方法。

背景技术

行业内众所周知，LED产品应该具有高可靠性（许多单位都宣传自己的产品能使用5到10年），如何在实验室用过应力加速的方法，快速测试出LED服役寿命，就是当务之急，也是全世界从事LED研究的科学家为之奋斗的目标。

为减少试验时间，必须采用加速寿命试验方案，在进行加速寿命试验之前，首先必须知道不同应力条件下的寿命与加速应力之间的关系，即建立ALT模型。

现在行业内主要用于预测LED寿命的方法有：

1) 利用逆幂定律：τ=τ_r·I^-n

2) 利用Arrhenius模型：τ=τr·eEakT]]>

3)利用Paris—Erdogan模型：dadn=A(Δk)mp]]>

4) 利用Eyring模型：τ=τrf(I)g(P)eEakT]]>

5) 其他利用Eyring模型的衍生模型。

以上模型 必须满足玻尔兹曼常数理论假说和过渡态理论假说才能成立，在现实物理工作条件下，玻尔兹曼常数理论假说和过渡态理论假说是很难完全满足，这样利用以上模型的评测方法就不可能精确；另外就是以上模型不能用于多应力施加的运算，而在现实的物理工作条件不只单独一个应力施加，所以目前LED服役寿命没有满意的预测方法。

发明内容

本发明的目的就是为了克服上述技术问题，提出一种LED多应力下可靠性快速评测方法，能够快速准确评测出LED产品的可靠性。

为此，本发明的LED多应力下可靠性快速评测方法包括如下步骤：S1、测量LED在特定条件下的寿命τ_r，所述特定条件是指特定的温度T、电流I、湿度H；S2、在Eyring模型的基础上，引入与、I^-2n、和H^-2m相关的修正项，根据修正后的公式计算LED寿命τ，其中，Ea为激活能(eV)，k为玻尔兹曼常数(8．617×10^-5eV／K)，T为绝对温度(K),m、n为拟合系数。

本发明的有益效果分析如下:由于LED服役期间，最主要的环境应力就是温度、湿度、电流，本发明建模过程中全部包括，这是业界首创，最近业内有用温度湿度或温度电流两维建模，这些模型没有考虑应力之间的相关性，更没有考虑修正，而本发明引入与、I^-2n、和H^-2m相关的修正项，就是充分考虑到了各应力之间的相关性，并在原始模型基础上用人工神经网络方法进行动态修正。本发明可以帮助业界快速准确评测出LED产品的可靠性，也就可以在实验室分析发现LED产品在制造过程中可能产生的缺陷，改善制造过程中关键工艺以提高产品品质。

附图说明

图1是LED可靠性复合多应力快速评估的BP网络模型。