[发明专利]一种放射性核素活度测量的校正方法无效

专利信息
申请号: 201210489699.3 申请日: 2012-11-27
公开(公告)号: CN103837880A 公开(公告)日: 2014-06-04
发明(设计)人: 周荣;王敏;严伟 申请(专利权)人: 周荣
主分类号: G01T1/00 分类号: G01T1/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610093 *** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 放射性 核素 测量 校正 方法
【说明书】:

技术领域

本发明是一种针对放射性核素活度测量结果的校正方法,主要用于可以识别核素类别的放射性活度计。

背景技术

放射性活度计是测量放射性核素活度的一种计量器具。活度计根据使用的探测器的不同分为两种:一种是使用气体探测器的活度计,另外一种是使用闪烁晶体探测器的活度计。其中气体探测器只能测量活度,而闪烁晶体探测器不仅可以测量活度,还可以通过能谱识别核素类别。

 两种活度计的基本原理都是利用探测器测量放射性核素在单位时间内发出的射线个数,从而得到放射性核素当前的活度。其中,单位时间内发出的射线个数是服从泊松分布的。而活度理论上是当前时刻发出的射线个数的数学期望值。测量时间越长,探测到的射线个数越多,活度测量越准确。

活度计广泛应用于科研,环保和医疗等领域。在医疗等应用场合,所使用的核素半衰期一般比较短,活度计测量时间也不能充分保证。在这种情况下,对活度计的测量结果进行修正,提高测量准确度就变得非常重要。本发明专利提供了一种校正活度计测量结果的方法。在不增加单次测量时间的情况下,提高了测量结果的准确性。

发明内容

本发明专利旨在利用间断测量的活度数据校正当前活度数据。

放射性核素的活度随时间的关系满足下式:

A(t)=A0e-t/τ

其中A0是零时刻对应的活度,A(t)是t时刻对应的活度,τ是和半衰期相关的时间常数。

设在(t1,t2)时间区间内活度计测得的活度值为A,在(t3,t4)时间区间内活度计测得的活度值为B,其中t1<t2<t3<t4,t2-t1=t4-t3。则(t3,t4)时间区间内的活度测量值可以通过下式校正:

B’=(B+A e-(t3-t1)/τ)/2

其中B’为校正后的活度测量结果。

与传统的方法相比,该方法的积极意义是:

(a)利用前次测量结果校正本次测量结果,充分利用了测量信息。

(b)可以实时得到准确度更高的测量结果。

以医院核医学科的应用为例,放射性药品出厂时会测定活度,标定出厂时间;药品送到医院药站,医生使用之前,会复核药品活度。使用本方法,出厂测定的活度就可以用来校正医师所测的活度,得到更为准确的结果。

虽然此处说明描述了本发明的某些特征及一种实现方法,但是对于本专业的技术人员来说,将会出现许多修改、替换、变化和等效代换。因此,本发明的保护范围由所附的权利要求的范围为准。

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