[发明专利]功率检测方法与装置

说明书

【技术领域】

本发明是关于具有考量到不匹配、制程以及电压变异等因子的校正的功率检测，尤指一种功率检测方法及相关装置。

【背景技术】

依据现有技术，一个偏置在饱和区的金氧半导体(metal oxide semiconductor，MOS)装置可用来作为一平方器，在宽频应用(wide-band application)中，该平方器可用来作功率检测。当功率检测范围的要求很广时，便会出现一些问题，例如，在现有技术中，大范围的功率检测(例如一大于20dB的检测范围)会需要一个大动态范围的模数转换器(analog-to-digital converter，ADC)，结果导致相关成本提高。尽管其它现有机制被设计来避免需要使用一个大动态范围的模数转换器，这些机制仍面临到设计上的各种副作用，致使整体效能减低。总结来说，现有技术对使用者来说无法提供好的解决方案，因此，需要创新方法来提高电子装置的功率检测效能。

【发明内容】

因此，本发明的目的之一在于提供一种功率检测方法以及相关装置，来解决上面提到的问题。

一方面，本发明实施例提供一种功率检测装置，其中包含平方器模组及校正模组(其耦接至至该平方器模组)，其中该平方器模组包含第一平方器与第二平方器。该第一平方器是用以将该平方器模组的输入信号转换成第一平方器输出信号，其中该第一平方器输出信号包含一稳态部份与一变动部分，而该变动部分与该输入信号的均方根(root mean square，RMS)值成正比。该第二平方器用以当一预定电压电平被输入至该第二平方器的输入端时，输出第二平方器输出信号。该校正模组是用以将该第一平方器输出信号与该第二平方器输出信号间的差量与一参考信号作比较，以产生一比较信号，以及依据该比较信号来补偿该差量，以对该装置执行校正。

另一方面，本发明实施例另提供一种功率检测方法，该方法使用包含平方器模组的装置来实行，该平方器模组包含用以将该平方器模组的输入信号转换成第一平方器输出信号的第一平方器，且另包含第二平方器用以当一预定电压电平输入至第二平方器的输入端时输出第二平方器输出信号。该装置另包含用以对第一平方器与第二平方器间的不匹配进行校正的校正模组。详细来说，一比较器被用来作为第一平方器与第二平方器的差量感应器。依据比较器的输出信号，会产生并控制补偿信号来补偿两平方器间的差量。该方法的包含如下步骤：校正第一平方器输出信号的稳态部分与第二平方器输出信号间的不匹配差量；于该校正步骤后，测量输入信号的功率电平。

本发明实施例的功率检测方法与装置，可避免在功率量测期间使用具有一大动态范围的模数转换器，从而可以节省相关的成本。

【附图说明】

图1为本发明第一实施例的功率检测装置100的结构示意图；

图2是依据本发明一实施例的功率检测方法200的流程示意图；

图3为依据本发明实施例的图1所示的功率检测装置100的第一组态的示意图；

图4为依据本发明的实施例的图1所示的功率检测装置100的第二组态的示意图；

图5为依据本发明实施例的图1所示的功率检测装置100的第三组态的示意图；

图6为依据本发明一实施例的包含于图2所示功率检测方法200中的流程示意600；

图7为依据本发明另一实施例的功率检测装置的结构示意图；

图8为依据本发明又一实施例的功率检测装置的结构示意图。

【具体实施方式】

在说明书及后续的权利要求当中使用了某些词汇来指称特定的元件。本领域技术人员应可理解，硬体制造商可能会用不同的名词来称呼同样的元件。本说明书及后续的权利要求并不以名称的差异来作为区分元件的方式，而是以元件在功能上的差异来作为区分的准则。在通篇说明书及后续的权利要求项当中所提及的「包含」为一开放式的用语，故应解释成「包含但不限定于」。另外，「耦接」一词在此包含任何直接及间接的电气连接手段。因此，若文中描述第一装置耦接于第二装置，则代表该第一装置可直接电气连接于该第二装置，或通过其他装置或连接手段间接地电气连接至该第二装置。