[发明专利]时域和频域综合测试装置有效
申请号: | 201210492438.7 | 申请日: | 2012-11-27 |
公开(公告)号: | CN103837739A | 公开(公告)日: | 2014-06-04 |
发明(设计)人: | 宋云衢;吕华平 | 申请(专利权)人: | 江苏绿扬电子仪器集团有限公司 |
主分类号: | G01R23/02 | 分类号: | G01R23/02;G01R13/20 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 212200 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 时域 综合测试 装置 | ||
1.一种时域和频域综合测试装置,其特征在于,包括前端信号链、采样及成像模块、数据交换模块、主控模块、显示及用户交互模块、接口及扩展模块、电源模块、频谱分析模块、RF程控调理模块,前端信号链通过采样及成像模块与数据交换模块通信,RF程控调理模块通过频谱分析模块与主控模块通信,数据交换模块分别与主控模块、显示及用户交互模块、接口及扩展模块、电源模块电连接。
2.根据权利要求1所述的时域和频域综合测试装置,其特征在于,前端信号链包括转换开关、阻抗转换器、程控衰减器、程控衰减模块、程控增益模块、数模转换器,模拟输入信号连接转换开关后分别通过阻抗转换器、程控衰减器处理,通过转换开关与程控衰减模块连接,程控衰减模块与程控增益模块电连接,数模转换器分别与程控衰减模块、程控增益模块电连接。
3.根据权利要求1所述的时域和频域综合测试装置,其特征在于,采样及成像模块包括双通道模数转换器、DDR2-SDRAM存储器模组、QDR2-SRAM存储器、加密协议芯片、FPGA模块,双通道模数转换器、DDR2-SDRAM存储器模组、QDR2-SRAM存储器、加密协议芯片分别与FPGA模块电连接。
4.根据权利要求3所述的时域和频域综合测试装置,其特征在于,FPGA模块包括采样控制器、存储管理器、高速数字荧光波形成像引擎、串化/解串器、随机数生成器、加密选件管理器,采样控制器通过存储管理器与高速数字荧光波形成像引擎电连接,高速数字荧光波形成像引擎分别连接串化/解串器、QDR2-SRAM存储器、波形运算处理器,采样控制器连接触发控制器,存储管理器分别连接存储控制器、FFT引擎,存储控制器与DDR2-SDRAM存储器模组连接,串化/解串器连接指令解码器,随机数生成器与加密选件管理器电连接,加密选件管理器与加密协议芯片电连接。
5.根据权利要求1所述的时域和频域综合测试装置,其特征在于,数据交换模块包括串行化/解串行单元、数据交换单元、指令解析器、视频图像叠加单元、PCI总线桥,串行化/解串行单元分别与数据交换单元、指令解析器电连接,数据交换单元、指令解析器分别与PCI总线桥电连接,数据交换单元与视频图像叠加单元电连接。
6.根据权利要求1所述的时域和频域综合测试装置,其特征在于,频谱分析模块包括衰减器、低通滤波器、混频器、中频滤波器、模数转换模块、数据处理及交换系统、可变本振发生器,衰减器通过低通滤波器连接混频器,混频器依次通过中频滤波器、模数转换模块与数据处理及交换系统连接,数据处理及交换系统通过可变本振发生器反馈回混频器。
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