[发明专利]电子元件安装系统

说明书

技术领域

本发明涉及从电子元件安装装置的循环时间发现改善点及问题的技术。

背景技术

一直以来，具有多个电子元件安装装置相邻而并列设置的电子元件安装生产线。在该电子元件安装生产线中，将印制基板依次向相邻的电子元件安装装置搬运，在各电子元件安装装置中将电子元件依次安装于印制基板。在各电子元件安装装置中，向印制基板安装的电子元件的种类、位置、个数分别不同。因此，从向电子元件安装装置搬入印制基板开始，到在该电子元件安装装置中进行电子元件的安装并将安装完电子元件的印制基板搬出为止的循环时间因各电子元件安装装置而不同。

如此，在各电子元件安装装置中，由于循环时间不同，因此循环时间最长的电子元件安装装置成为瓶颈，电子元件安装生产线整体的生产效率下降。若能够改善成为瓶颈的电子元件安装装置，则能够改善电子元件安装生产线整体的生产效率。因此，希望一种用于对各电子元件安装装置的循环时间进行分析的技术。

因此，如专利文献1所示，提出一种对各工序的理论循环时间进行模拟的循环时间模拟器。

【在先技术文献】

【专利文献】

【专利文献1】日本特开2004-158016号公报

【发明的概要】

【发明要解决的课题】

然而，在专利文献1所示的循环时间模拟器中，由于循环时间模拟器的精度、装置个体的不同，存在运算为完全没有动作损失的理论循环时间与实际的循环时间背离的问题。因此，在实际的循环时间永久地比理论循环时间长的情况下，换言之，在理论循环时间超过实际的电子元件安装装置的最高能力时，有与在电子元件安装装置中没有改善的余地无关而仍然判断为存在改善的余地的问题。另一方面，实际的循环时间有时会比理论循环时间短，这种情况下，有与在电子元件安装装置中存在改善的余地无关而仍然判断为没有改善的余地的问题。如此，在以往的使用了理论循环时间的电子元件安装装置的能力或生产损失的分析中，存在缺乏可靠性的问题。

发明内容

本发明鉴于这种情况而作出，目的在于提供一种在电子元件安装装置的能力或生产损失的分析时能够求出可靠性高的指标的电子元件安装系统。

【用于解决课题的手段】

为了解决上述的课题而作出的本发明第一方面的电子元件安装系统包括：电子元件安装生产线，将向印制基板安装电子元件的多个电子元件安装装置相邻而并列设置，并将印制基板依次向相邻的所述电子元件安装装置搬运，在所述各电子元件安装装置中将供给的电子元件依次安装到搬运来的所述印制基板；生产管理装置，与所述各电子元件安装装置以能够通信的方式连接，被从所述各电子元件安装装置输入信息，其中，在所述生产管理装置设有：循环时间取得单元，在所述各电子元件安装装置中取得从搬入所述印制基板到搬出所述印制基板为止的时间即循环时间；最快循环时间选择单元，将所述循环时间取得单元取得的所述各电子元件安装装置的循环时间中的所述各电子元件安装装置的最短的循环时间分别选择作为所述各电子元件安装装置的最快循环时间。

本发明第二方面的电子元件安装系统以第一方面为基础，其中，所述各电子元件安装装置具有错误输出单元，该错误输出单元检测向印制基板安装电子元件时的错误，并将所述错误向所述生产管理装置输出，所述最快循环时间选择单元将包含所述错误的循环时间从所述最快循环时间的选择候补排除，而选择所述最快循环时间。

本发明第三方面的电子元件安装系统以第一或第二方面为基础，其中，在所述生产管理装置设有安装状态分析信息生成单元，该安装状态分析信息生成单元基于由所述最快循环时间选择单元选择的各最快循环时间，生成用于分析各电子元件安装装置的安装状态的信息。

本发明第四方面的电子元件安装系统以第三方面为基础，其中，在所述生产管理装置设有：实测平均循环时间计算单元，算出所述各电子元件安装装置的所述循环时间的平均值即实测平均循环时间；实测瓶颈装置确定单元，将由所述各实测平均循环时间计算单元算出的全部所述电子元件安装装置的所述实测平均循环时间中的最长的实测平均循环时间的所述电子元件安装装置确定作为实测瓶颈装置；瓶颈装置确定单元，将由所述最快循环时间选择单元选择的全部所述电子元件安装装置的所述最快循环时间中的最长的最快循环时间的所述电子元件安装装置确定作为瓶颈装置；通知单元，通知信息，所述安装状态分析信息生成单元利用所述通知单元通知所述瓶颈装置确定单元确定的所述瓶颈装置及所述实测瓶颈装置确定单元确定的所述实测瓶颈装置。