[发明专利]超级电容检测方法及装置有效

专利信息
申请号: 201210495542.1 申请日: 2012-11-28
公开(公告)号: CN103852650B 公开(公告)日: 2017-10-10
发明(设计)人: 宋博;陈曦;卫浩;李磊;宋立刚 申请(专利权)人: 华锐风电科技(集团)股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R27/26
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司11205 代理人: 刘芳
地址: 100872 北京市海*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 超级 电容 检测 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种超级电容检测方法,其特征在于,包括:

在通过恒压源和充电电路对待测超级电容进行单次充电的过程中,根据电容电压采样周期对所述待测超级电容的电压进行多次采样,获得多个电容电压采样值;

根据所述多个电容电压采样值和电容计算公式:

计算获得多个电容容值;

其中,t为电容电压采样周期,R为所述充电电路中充电电阻的阻值,UDC(n)为第n个电容电压采样周期的恒压源电压值,UC(n-1)为第n-1个电容电压采样周期获得的电容电压采样值,UC(n)为第n个电容电压采样周期获得的电容电压采样值,n为大于0的整数;

根据所述多个电容容值和所述待测超级电容的容值阈值,判断所述待测超级电容是否损坏。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

在第n个电容电压采样周期内,根据恒压源电压采样周期对所述恒压源的电压进行多次采样,获得多个恒压源电压采样值;

对所述多个恒压源电压采样值进行均值处理,获得所述第n个电容电压采样周期的恒压源电压值UDC(n)。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述对所述恒压源的电压进行多次采样,获得多个恒压源电压采样值之后,还包括:对所述多个恒压源电压采样值进行低通滤波处理;所述对所述多个恒压源电压采样值进行均值处理具体为:对低通滤波处理后的所述多个恒压源电压采样值进行均值处理。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的方法,其特征在于,所述对所述待测超级电容的电压进行多次采样,获得多个电容电压采样值之后,还包括:对所述多个电容电压采样值进行低通滤波处理;所述根据所述多个电容电压采样值和电容计算公式,计算获得多个电容容值具体为:根据低通滤波处理后的所述多个电容电压采样值和电容计算公式,计算获得多个电容容值。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据所述多个电容容值和所述待测超级电容的容值阈值,判断所述待测超级电容是否损坏包括:

若小于所述容值阈值的电容容值的个数在所述电容容值的总个数中所占的比例大于或等于设定值,则判定所述待测超级电容损坏,否则判定所述待测超级电容未损坏。

6.一种超级电容检测装置,其特征在于,包括:

电容电压采样模块,用于在通过恒压源和充电电路对待测超级电容进行单次充电的过程中,根据电容电压采样周期对所述待测超级电容的电压进行多次采样,获得多个电容电压采样值;

电容电压处理模块,用于根据所述多个电容电压采样值和电容计算公式:

计算获得多个电容容值;

其中,t为电容电压采样周期,R为所述充电电路中充电电阻的阻值,UDC(n)为第n个电容电压采样周期的恒压源电压值,UC(n-1)为第n-1个电容电压采样周期获得的电容电压采样值,UC(n)为第n个电容电压采样周期获得的电容电压采样值,n为大于0的整数;

电容检测模块,用于根据所述多个电容容值和所述待测超级电容的容值阈值,判断所述待测超级电容是否损坏。

7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:

恒压源采样模块,用于在第n个电容电压采样周期内,根据恒压源电压采样周期对所述恒压源的电压进行多次采样,获得多个恒压源电压采样值;

恒压源处理模块,用于对所述多个恒压源电压采样值进行均值处理,获得所述第n个电容电压采样周期的恒压源电压值UDC(n)。

8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:恒压源滤波模块,用于对所述多个恒压源电压采样值进行低通滤波处理;所述恒压源处理模块具体用于,对低通滤波处理后的所述多个恒压源电压采样值进行均值处理,获得所述第n个电容电压采样周期的恒压源电压值UDC(n)。

9.根据权利要求6-8中任一项所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:电容电压滤波模块,用于对所述多个电容电压采样值进行低通滤波处理;所述电容电压处理模块具体用于,根据低通滤波处理后的所述多个电容电压采样值和电容计算公式,计算获得多个电容容值。

10.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述电容检测模块包括:

计算单元,用于计算小于容值阈值的电容容值的个数在所述多个电容容值的总个数中所占的比例;

判定单元,用于若小于所述容值阈值的电容容值的个数在所述电容容值的总个数中所占的比例大于或等于设定值,则判定所述待测超级电容损坏,否则判定所述待测超级电容未损坏。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华锐风电科技(集团)股份有限公司,未经华锐风电科技(集团)股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210495542.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code