[发明专利]超级电容检测方法及装置有效
申请号: | 201210495542.1 | 申请日: | 2012-11-28 |
公开(公告)号: | CN103852650B | 公开(公告)日: | 2017-10-10 |
发明(设计)人: | 宋博;陈曦;卫浩;李磊;宋立刚 | 申请(专利权)人: | 华锐风电科技(集团)股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R27/26 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司11205 | 代理人: | 刘芳 |
地址: | 100872 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 超级 电容 检测 方法 装置 | ||
1.一种超级电容检测方法,其特征在于,包括:
在通过恒压源和充电电路对待测超级电容进行单次充电的过程中,根据电容电压采样周期对所述待测超级电容的电压进行多次采样,获得多个电容电压采样值;
根据所述多个电容电压采样值和电容计算公式:
计算获得多个电容容值;
其中,t为电容电压采样周期,R为所述充电电路中充电电阻的阻值,UDC(n)为第n个电容电压采样周期的恒压源电压值,UC(n-1)为第n-1个电容电压采样周期获得的电容电压采样值,UC(n)为第n个电容电压采样周期获得的电容电压采样值,n为大于0的整数;
根据所述多个电容容值和所述待测超级电容的容值阈值,判断所述待测超级电容是否损坏。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
在第n个电容电压采样周期内,根据恒压源电压采样周期对所述恒压源的电压进行多次采样,获得多个恒压源电压采样值;
对所述多个恒压源电压采样值进行均值处理,获得所述第n个电容电压采样周期的恒压源电压值UDC(n)。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述对所述恒压源的电压进行多次采样,获得多个恒压源电压采样值之后,还包括:对所述多个恒压源电压采样值进行低通滤波处理;所述对所述多个恒压源电压采样值进行均值处理具体为:对低通滤波处理后的所述多个恒压源电压采样值进行均值处理。
4.根据权利要求1-3中任一项所述的方法,其特征在于,所述对所述待测超级电容的电压进行多次采样,获得多个电容电压采样值之后,还包括:对所述多个电容电压采样值进行低通滤波处理;所述根据所述多个电容电压采样值和电容计算公式,计算获得多个电容容值具体为:根据低通滤波处理后的所述多个电容电压采样值和电容计算公式,计算获得多个电容容值。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据所述多个电容容值和所述待测超级电容的容值阈值,判断所述待测超级电容是否损坏包括:
若小于所述容值阈值的电容容值的个数在所述电容容值的总个数中所占的比例大于或等于设定值,则判定所述待测超级电容损坏,否则判定所述待测超级电容未损坏。
6.一种超级电容检测装置,其特征在于,包括:
电容电压采样模块,用于在通过恒压源和充电电路对待测超级电容进行单次充电的过程中,根据电容电压采样周期对所述待测超级电容的电压进行多次采样,获得多个电容电压采样值;
电容电压处理模块,用于根据所述多个电容电压采样值和电容计算公式:
计算获得多个电容容值;
其中,t为电容电压采样周期,R为所述充电电路中充电电阻的阻值,UDC(n)为第n个电容电压采样周期的恒压源电压值,UC(n-1)为第n-1个电容电压采样周期获得的电容电压采样值,UC(n)为第n个电容电压采样周期获得的电容电压采样值,n为大于0的整数;
电容检测模块,用于根据所述多个电容容值和所述待测超级电容的容值阈值,判断所述待测超级电容是否损坏。
7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:
恒压源采样模块,用于在第n个电容电压采样周期内,根据恒压源电压采样周期对所述恒压源的电压进行多次采样,获得多个恒压源电压采样值;
恒压源处理模块,用于对所述多个恒压源电压采样值进行均值处理,获得所述第n个电容电压采样周期的恒压源电压值UDC(n)。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:恒压源滤波模块,用于对所述多个恒压源电压采样值进行低通滤波处理;所述恒压源处理模块具体用于,对低通滤波处理后的所述多个恒压源电压采样值进行均值处理,获得所述第n个电容电压采样周期的恒压源电压值UDC(n)。
9.根据权利要求6-8中任一项所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:电容电压滤波模块,用于对所述多个电容电压采样值进行低通滤波处理;所述电容电压处理模块具体用于,根据低通滤波处理后的所述多个电容电压采样值和电容计算公式,计算获得多个电容容值。
10.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述电容检测模块包括:
计算单元,用于计算小于容值阈值的电容容值的个数在所述多个电容容值的总个数中所占的比例;
判定单元,用于若小于所述容值阈值的电容容值的个数在所述电容容值的总个数中所占的比例大于或等于设定值,则判定所述待测超级电容损坏,否则判定所述待测超级电容未损坏。
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