[发明专利]放射线断层摄影装置、被照射射线量计算方法以及程序

说明书

技术领域

本发明涉及放射线断层摄影装置、被照射射线量计算方法以及为此的程序（program）。

背景技术

在以X射线CT（Computed Tomography）装置为代表的放射线断层摄影装置中，确定为显示表示每单位切片（slice）厚的被照射射线量的CTDI值、表示1次检查整体中的被照射射线量的DLP值（例如，参照专利文献1，图27等）。由此，能进行摄影对象的被照射评价。

专利文献1：日本特开2007-54372号公报。

发明内容

然而，实际上，被照射射线量的分布并不均匀，在摄影部位的表面最大，越接近中心部越小。另外，放射线感受性高的部位，存在于被检体的体表面附近。

因此，仅用现行那样的表示每单位切片厚的被照射射线量的CTDI值、表示1次检查整体的被照射射线量的DLP值，不能够正确地进行摄影对象的被照射评价。

由于这样的情况，希望有提供能进行摄影对象的更正确的被照射评价的信息的技术。

第1观点的发明提供一种放射线断层摄影装置，显示与摄影对象的表面附近对应的被照射射线量。

第2观点的发明提供如上述第1观点的放射线断层摄影装置，其中，具备计算单元，所述计算单元基于对模型（phantom）进行放射线照射时、仅在所述模型的表面附近测定位置处测定的放射线射线量，计算所述被照射射线量。

第3观点的发明提供如上述第2观点的放射线断层摄影装置，其中，所述计算单元基于在对模型进行放射线照射时、在作为所述模型的表面附近的测定位置的、放射线射线量实质上成为最大的位置处测定的放射线射线量，计算所述被照射射线量。

第4观点的发明提供如上述第3观点的放射线断层摄影装置，其中，所述模型承载于摄影台（table）的桌面上，所述放射线实质上成为最大的位置是最接近放射线源的位置。

第5观点的发明提供如上述第2观点到第4观点的任一观点的放射线断层摄影装置，其中，所述计算单元基于对所述模型进行扫描（scan）时、在所述表面附近的测定位置处测定的第1放射线射线量，计算所述被照射射线量。

第6观点的发明提供如上述第2观点到第4观点的任一观点的放射线断层摄影装置，其中，所述计算单元基于将对所述模型进行扫描时在所述表面附近的测定位置处测定的放射线射线量、除以对所述模型以与该扫描相同的放射线束（beam）宽度进行放射线照射时在该测定位置处测定的放射线束宽度方向的射线量曲线（profile）用其峰（peak）射线量值归一化后的曲线面积而成的第1放射线射线量，计算所述被照射射线量。

第7观点的发明提供如上述第6观点的放射线断层摄影装置，其中，所述射线量曲线是将所述放射线源配置于互相不同的多个观察（view）角度而进行放射线照射时测定的多个射线量曲线平均化的曲线。

第8观点的发明提供如上述第5观点到第7观点的任一观点的放射线断层摄影装置，其中，在设定螺旋扫描（helical scan）作为期望扫描条件的情况下，所述计算单元基于所述第1放射线射线量除以螺旋间距（helical pitch）而成的放射线射线量，计算所述被照射射线量。

第9观点的发明提供如上述第5观点到第7观点的任一观点的放射线断层摄影装置，其中，在设定可变间距螺旋扫描作为期望扫描条件的情况下，所述计算单元基于所述第1放射线射线量除以使用时间加权平均得到的螺旋间距换算值而成的放射线射线量，计算所述被照射射线量。

第10观点的发明提供如上述第5观点到第9观点的任一观点的放射线断层摄影装置，其中，在设定照射不足360度的量的放射线的局部扫描（partial scan）作为期望扫描条件的情况下，所述计算单元基于进行所述局部扫描的观察角度范围，计算所述被照射射线量。

第11观点的发明提供如上述第5观点到第9观点的任一观点的放射线断层摄影装置，其中，在设定照射不足360度的量的放射线的局部扫描作为期望扫描条件的情况下，所述计算单元基于进行所述局部扫描作为对所述模型的扫描时所得的所述第1放射线射线量，计算所述被照射射线量。

第12观点的发明提供如上述第5观点到第9观点的任一观点的放射线断层摄影装置，其中，在设定照射不足360度的量的放射线的局部扫描作为期望扫描条件的情况下，所述计算单元基于将在互相不同的多个观察角度范围中进行局部扫描作为对所述模型的扫描时所得的多个所述第1放射线射线量平均化的放射线射线量，计算所述被照射射线量。