[发明专利]石墨烯晶体管以及制造石墨烯器件的方法有效
申请号: | 201210497438.6 | 申请日: | 2012-11-29 |
公开(公告)号: | CN103227103B | 公开(公告)日: | 2017-06-23 |
发明(设计)人: | 李昌承;李周浩;金容诚;文彰烈 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H01L21/04 | 分类号: | H01L21/04;H01L29/78 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所11105 | 代理人: | 王新华 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 石墨 晶体管 以及 制造 器件 方法 | ||
1.一种制造石墨烯器件的方法,该方法包括:
在第一基板上形成石墨烯层;
在所述第一基板上形成器件部分,所述器件部分包括所述石墨烯层,其中形成所述器件部分包括:形成分别接触所述石墨烯层的第一区和第二区的源电极和漏电极;形成覆盖所述石墨烯层、所述源电极和所述漏电极的栅绝缘层;以及在所述栅绝缘层上且在所述源电极与所述漏电极之间形成栅极;
将第二基板附接到所述器件部分上;以及
移除所述第一基板;
在移除所述第一基板之后,将第三基板附接在所述器件部分上,其中所述器件部分设置在所述第二基板与所述第三基板之间;以及
去除整个所述第二基板。
2.根据权利要求1所述的方法,还包括:
形成覆盖所述器件部分的绝缘层;和
蚀刻部分的所述绝缘层和部分的所述栅绝缘层以暴露所述源电极、所述漏电极和所述栅极。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其中附接所述第三基板包括选择玻璃基板、塑料基板和聚合物基板之一作为所述第三基板。
4.根据权利要求1或2所述的方法,其中附接所述第三基板包括选择柔性基板作为所述第三基板。
5.根据权利要求1或2所述的方法,还包括:
在所述器件部分与所述第三基板之间形成保护层。
6.根据权利要求1所述的方法,还包括:
在移除所述第一基板之后,形成覆盖所述器件部分的绝缘层,其中所述器件部分设置在所述绝缘层与所述第二基板之间。
7.根据权利要求1所述的方法,还包括:
在所述第一基板与所述石墨烯层之间形成催化剂层。
8.根据权利要求7所述的方法,还包括:
在所述第一基板与所述催化剂层之间形成中间层。
9.根据权利要求7所述的方法,其中移除所述第一基板包括蚀刻所述催化剂层。
10.根据权利要求8所述的方法,其中移除所述第一基板包括蚀刻所述催化剂层和所述中间层之一。
11.根据权利要求1所述的方法,还包括:
在附接所述第二基板之前,在所述第一基板上形成覆盖所述器件部分的保护层。
12.根据权利要求1所述的方法,其中附接所述第二基板包括选择聚合物基板作为所述第二基板。
13.根据权利要求1所述的方法,还包括:
在所述第一基板上形成包括多个所述器件部分的器件层;和
通过图案化所述器件层而分离所述多个器件部分。
14.根据权利要求13所述的方法,还包括:
在所述第一基板与所述器件层之间形成牺牲层。
15.根据权利要求14所述的方法,其中移除所述第一基板包括通过在所述多个器件部分之间注入蚀刻溶液而蚀刻所述牺牲层。
16.根据权利要求14所述的方法,其中形成所述牺牲层包括选择金属层或绝缘层作为所述牺牲层。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造